학술논문 – 부산대학교 도서관

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SEU tolerance improvement in 22 nm UTBB FDSOI SRAM based on a simple 8T hardened cell

Document Type

Article

Author

Cai, C.; Zhao, P.X.; Xu, L.W.; Liu, T.Q.; Li, D.Q.; Ke, L.Y.; He, Z.; Liu, J.

Source

In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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