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Mapping unit-cell thickness variations in thin films by post-deposition reflection high-energy electron diffraction

Document Type

Journal

Author

Smink, A. E. M.; Birkholzer, Y. A.; Dam, J. van; Roesthuis, F. J. G.; Rijnders, G.; Hilgenkamp, H.; Koster, G.

Source

PHYSICAL REVIEW MATERIALS; AUG 20 2020, 4 8, p083806 8p.

Subject

Language

English

ISSN

24759953

Online Access

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