학술논문 – 부산대학교 도서관

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An Area Efficient Stacked Latch Design Tolerant to SEU in 28 nm FDSOI Technology

Document Type

Journal

Author

Wang, H. -B.; Chen, L.; Liu, R.; Li, Y. -Q.; Kauppila, J. S.; Bhuva, B. L.; Lilja, K.; Wen, S. -J.; Wong, R.; Fung, R.; Baeg, S.

Source

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE; DEC 2016, 63 6, p3003-p3009, 7p.

Subject

Language

English

ISSN

15581578

Online Access

Full Text (IEEE) Web of Science JCR 저널정보 Scopus Find it@PNU

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