학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 3,569건 | 목록
1~10
Report
Achenbach, P.; Aoki, K.; Aoki, S.; Curceanu, C.; Diehl, S.; Doi, T.; Endo, M.; Fujita, M.; Fukuda, T.; Garcia-Tecocoatzi, H.; Geng, L. S.; Gunji, T.; Hanhart, C.; Harada, M.; Harada, T.; Hayakawa, S.; He, B. R.; Hiyama, E.; Honda, R.; Ichikawa, Y.; Isaka, M.; Jido, D.; Jinno, A.; Kamada, K.; Kamiya, Y.; Kong, Y. K.; Liu, Z. W.; Lu, J. X.; Miwa, K.; Mizutani, K.; Murakami, K.; Muto, R.; Murase, K.; Nagao, S.; Nanamura, T.; Nanjo, H.; Nara, Y.; Ohnishi, A.; Qiu, J. W.; Sakaguchi, A.; Sakuma, F.; Santopinto, E.; Scordo, A.; Sekihara, T.; Seong, C.; Shevchenko, N. V.; Stone, J. R.; Strakovsky, I.; Suzuki, K.; Takahashi, H.; Takizawa, M.; Tamura, H.; Tomida, N.; Umeya, A.; Doce, O. Vázquez; Yamagata-Sekihara, J.; Yamamoto, T. O.; Xiao, Y.; Yin, Z.; Yu, Z.; Zou, B. S.
Conference
Fujisaki, Y.; Tsugawa, H.; Sakai, K.; Kumagai, H.; Nakamura, R.; Ogita, T.; Endo, S.; Iwase, T.; Takase, H.; Yokochi, K.; Yoshida, S.; Shimada, S.; Otake, Y.; Wakano, T.; Hiyama, H.; Hagiwara, K.; Arakawal, M.; Matsumotol, S.; Maeda, H.; Sugihara, K.; Takabayashi, K.; Ono, M.; Ishibashi, K.; Yamamoto, K.
2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023
Academic Journal
Trobaugh-Lotrario, Angela D; Maibach, Rudolf; Aronson, Daniel C; Rangaswami, Arun; Häberle, Beate; O'Neill, Allison F; Schmid, Irene; Ansari, Marc; Hishiki, Tomoro; Ranganathan, Sarangarajan; Alaggio, Rita; de Krijger, Ronald R; Tanaka, Yukichi; Cho, Soo-Jin; Vokuhl, Christian; Maxwell, Rebecca; Krailo, Mark; Hiyama, Eiso; Czauderna, Piotr; Finegold, Milton; Feusner, James H; Malogolowkin, Marcio H; Meyers, Rebecka L; Lopez-Terrada, Dolores
Cancers. 15(2)
Conference
Shimada, S.; Otake, Y.; Yoshida, S.; Jibiki, Y.; Fujii, M.; Endo, S.; Nakamura, R.; Tsugawa, H.; Fujisaki, Y.; Yokochi, K.; Iwase, J.; Takabayashi, K.; Maeda, H.; Sugihara, K.; Yamamoto, K.; Ono, M.; Ishibashi, K.; Matsumoto, S.; Hiyama, H.; Wakano, T.
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :37.3.1-37.3.4 Dec, 2022
Conference
Shimada, S.; Otake, Y.; Yoshida, S.; Endo, S.; Nakamura, R.; Tsugawa, H.; Ogita, T.; Ogasahara, T.; Yokochi, K.; Inoue, Y.; Takabayashi, K.; Maeda, H.; Yamamoto, K.; Ono, M.; Matsumoto, S.; Hiyama, H.; Wakano, T.
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :20.1.1-20.1.4 Dec, 2021
Report
Ajimura, S.; Chan, W. M.; Ichimura, K.; Ishikawa, T.; Kanagawa, K.; Khai, B. T.; Kishimoto, T.; Kino, H.; Maeda, T.; Matsuoka, K.; Nakatani, N.; Nomachi, M.; Saka, M.; Seki, K.; Takemoto, Y.; Takihira, Y.; Tanaka, D.; Tanaka, M.; Tetsuno, K.; Trang, V. T. T.; Tsuzuki, M.; Umehara, S.; Akutagawa, K.; Batpurev, T.; Doihara, M.; Katagiri, S.; Kinoshita, E.; Hirano, Y.; Iga, T.; Ishikawa, M.; Ito, G.; Kakubata, H.; Lee, K. K.; Li, X.; Mizukoshi, K.; Moser, M.; Ohata, T.; Shokati, M.; Soberi, M. S.; Uehara, T.; Wang, W.; Yamamoto, K.; Yasuda, K.; Yoshida, S.; Yotsunaga, N.; Harada, T.; Hiraoka, H.; Hiyama, T.; Hirota, A.; Ikeyama, Y.; Kawamura, A.; Kawashima, Y.; Maeda, S.; Nakajima, K.; Ogawa, I.; Ozawa, K.; Shamoto, K.; Shimizu, K.; Shinki, Y.; Tamagawa, Y.; Tozawa, M.; Yoshizawa, M.; Fushimi, K.; Hazama, R.; Noithong, P.; Rittirong, A.; Suzuki, K.; Iida, T.
Phys. Rev. D 103, 092008 (2021)
Conference
Ito, K.; Otake, Y.; Kitano, Y.; Matsumoto, A.; Yamamoto, J.; Ogasahara, T.; Hiyama, H.; Naito, R.; Takeuchi, K.; Tada, T.; Takabayashi, K.; Nakayama, H.; Tatani, K.; Hirano, T.; Wakano, T.
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :16.6.1-16.6.4 Dec, 2020
Conference
Uchida, T.; Yamashita, K.; Masagaki, A.; Kawamura, T.; Tokumitsu, C.; IwabuchI, S.; Onizawa, T.; Ohura, M.; Ansai, H.; Izukashi, K.; Yoshida, S.; Tanikuni, T.; Hiyama, S.; Hirano, H.; Miyazawa, S.; Tateshita, Y.
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :30.3.1-30.3.4 Dec, 2021
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[Author] Hiyama H
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어