학술논문

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(예 : 2010-2015)
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Academic Journal
MICROELECTRONICS RELIABILITY; SEP-OCT 2001, 41 9-10, p1603-p1607, 5p.
Academic Journal
MICROELECTRONICS RELIABILITY; JUN-AUG 1998, 38 6-8, p1215-p1220, 6p.
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[AR] de Palo, R
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