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Academic Journal
Boumediene, D.; Pingault, A.; Tytgat, M.; W. Baek, Y.; Kim, D.-W.; Lee, S.C.; Min, B.G.; Park, S.W.; Deguchi, Y.; Kawagoe, K.; Miura, Y.; Mori, R.; Sekiya, I.; Suehara, T.; Yoshioka, T.; Caponetto, L.; Combaret, C.; Garillot, G.; Grenier, G.; Ianigro, J.-C.; Kurca, T.Q.; Laktineh, I.; Liu, B.; Li, B.; Lumb, N.; Mathez, H.; Mirabito, L.; Steen, A.; Calvo Alamillo, E.; Carrillo, C.; Fouz, M.C.; Garcia Cabrera, H.; Marin, J.; Navarrete, J.; Puerta Pelayo, J.; Verdugo, A.; Corriveau, F.; Emberger, L.; Graf, C.; De Silva, L.M.S.; Simon, F.; Winter, C.; Bonis, J.; Breton, D.; Cornebise, P.; Gallas, A.; Jeglot, J.; Irles, A.; Maalmi, J.; Pöschl, R.; Thiebault, A.; Richard, F.; Zerwas, D.; Cvach, J.; Janata, M.; Kovalcuk, M.; Kvasnicka, J.; Polak, I.; Smolik, J.; Vrba, V.; Zalesak, J.; Zuklin, J.; Duan, Y.Y.; Li, S.; Guo, J.; Hu, J.F.; Lagarde, F.; Shen, Q.P.; Wang, X.; Wu, W.H.; Yang, H.J.; Zhu, Y.F.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 July 2022, 17(7))
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[AR] W. Baek, Y.
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