학술논문
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1~20
Academic Journal
Bender, H ; Conard, Th ; Richard, O ; Brijs, B ; Pétry, J ; Vandervorst, W ; Defranoux, C ; Boher, P ; Rochat, N ; Wyon, C ; Mack, P ; Wolstenholme, J ; Vitchev, R ; Houssiau, L ; Pireaux, J-J ; Bergmaier, A ; Dollinger, G
In Materials Science & Engineering B 15 June 2004 109(1-3):60-63
Academic Journal
In Materials Science & Engineering B 15 June 2004 109(1-3):56-59
Academic Journal
Vandervorst, W ; Janssens, T ; Brijs, B ; Conard, T ; Huyghebaert, C ; Frühauf, J ; Bergmaier, A ; Dollinger, G ; Buyuklimanli, T ; VandenBerg, J.A ; Kimura, K
In Applied Surface Science 2004 231:618-631
Academic Journal
Meunier-Beillard, P ; Caymax, M ; Van Nieuwenhuysen, K ; Doumen, G ; Brijs, B ; Hopstaken, M ; Geenen, L ; Vandervorst, W
In Applied Surface Science 2004 224(1):31-35
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):191-196
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):174-179
Academic Journal
In Applied Surface Science 2003 203:30-34
Academic Journal
In Materials Science & Engineering B 2003 102(1):132-137
Academic Journal
Brijs, B ; Huyghebaert, C ; Nauwelaerts, S ; Caymax, M ; Vandervorst, W ; Nakajima, K ; Kimura, K ; Bergmaier, A ; Döllinger, G ; Lennard, W.N ; Terwagne, G ; Vantomme, A
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2002 190(1):505-509
Academic Journal
In Materials Science in Semiconductor Processing 6 February 2001 4(1-3):61-66
Academic Journal
In Diamond & Related Materials 1999 8(2):283-287
Academic Journal
Journal of Physics: Conference Series; 2013, Vol. 417 Issue 1, p012033-012038, 6p
Academic Journal
Journal of Physics: Conference Series; 2010, Vol. 209 Issue 1, p012057-012060, 4p
Academic Journal
Brijs, B; Sajavaara, T; Giangrandi, S; Janssens, T; Conard, T; Arstila, K; Nakajima, K; Kimura, K; Bergmaier, A; Dollinger, G; Vantomme, A; Vandervorst, W
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 249:847-850
Academic Journal
Brijs, B; Deleu, J; Conard, T; De Witte, H; Vandervorst, W; Nakajima, K; Kimura, K; Genchev, I; Bergmaier, A; Goergens, L; Neumaier, P; Dollinger, G; Dobeli, M
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. :429-434
Academic Journal
Nalin Mehta A; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Physics and Astronomy, KU Leuven, Leuven, Belgium.; Zhang H; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Chemistry, KU Leuven, Leuven, Belgium.; Dabral A; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Physics and Astronomy, KU Leuven, Leuven, Belgium.; Richard O; Imec, Leuven, Belgium.; Favia P; Imec, Leuven, Belgium.; Bender H; Imec, Leuven, Belgium.; Delabie A; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Chemistry, KU Leuven, Leuven, Belgium.; Caymax M; Imec, Leuven, Belgium.; Houssa M; Department of Physics and Astronomy, KU Leuven, Leuven, Belgium.; Pourtois G; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Chemistry, Plasmant Research Group, University of Antwerp, Antwerp, Belgium.; Vandervorst W; Imec, Leuven, Belgium.; Department of Physics and Astronomy, KU Leuven, Leuven, Belgium.
Publisher: Published for the Royal Microscopical Society by Blackwell Scientific Publications Country of Publication: England NLM ID: 0204522 Publication Model: Print-Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1365-2818 (Electronic) Linking ISSN: 00222720 NLM ISO Abbreviation: J Microsc Subsets: PubMed not MEDLINE
Academic Journal
Publisher: Optica Publishing Group Country of Publication: United States NLM ID: 101137103 Publication Model: Print Cited Medium: Internet ISSN: 1094-4087 (Electronic) Linking ISSN: 10944087 NLM ISO Abbreviation: Opt Express Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Academic Journal
Verleysen E; IMEC, Kapeldreef, Leuven, Belgium. eveline.verleysen@imec.be; Bender H; Richard O; Schryvers D; Vandervorst W
Publisher: Published for the Royal Microscopical Society by Blackwell Scientific Publications Country of Publication: England NLM ID: 0204522 Publication Model: Print Cited Medium: Internet ISSN: 1365-2818 (Electronic) Linking ISSN: 00222720 NLM ISO Abbreviation: J Microsc Subsets: PubMed not MEDLINE
Academic Journal
De Keyser, Koen; Van Bockstael, Charlotte; Vanmeirhaeghe, Roland; Detavernier, Christophe; Verleysen, E; Bender, H; Vandervorst, W; Jordan-Sweet, J; Lavoie, C
APPLIED PHYSICS LETTERS
Academic Journal
Groven B; Department of Chemistry, KU Leuven (University of Leuven), Leuven 3001, Belgium.; Claes D; Department of Chemistry, KU Leuven (University of Leuven), Leuven 3001, Belgium.; Nalin Mehta A; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Bender H; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Vandervorst W; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Heyns M; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Caymax M; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Radu I; imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium.; Delabie A; Department of Chemistry, KU Leuven (University of Leuven), Leuven 3001, Belgium.
Publisher: American Institute of Physics Country of Publication: United States NLM ID: 0375360 Publication Model: Print Cited Medium: Internet ISSN: 1089-7690 (Electronic) Linking ISSN: 00219606 NLM ISO Abbreviation: J Chem Phys Subsets: PubMed not MEDLINE
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