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Periodical
Sendelbach, Matthew J.; Schuch, Nivea G.; Rencker, L.; Tajalizadehkhoob, O.; Elsayed, K.; Khachaturiants, A.; Pahlavani, H.; Guo, Y.; van de Laar, J.; Simons, E.; Saikumar, N.; Sadeghian, H.
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12955 Issue: 1 p129553J-129553J-6, 1165984p
Conference
Rencker, L.; Tajalizadehkhoob, O.; Elsayed, K.; Khachaturiants, A.; Pahlavani, H.; Guo, Y.; van de Laar, J.; Simons, E.; Saikumar, N.; Sadeghian, H.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2024, 12955)
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[AR] Tajalizadehkhoob, O.
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