학술논문
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1~10
Conference
Engstrom, M.; Bohm, C.; Hellman, S.; Prytz, K.; Silverstein, S.; Yamdagni, N.; Zhao, X.; Sundblad, R.; Craciunescu, A.; Gustafsson, S.; Odmark, A.; Bodo, P.
2nd International Conference on ASIC ASIC Shanghai ASIC, 1996., 2nd International Conference on. :344-347 1996
Conference
Dell'Acqua, A.; Alippi, C.; Appelquist, G.; Berglund, S.; Bohm, C.; Breveglieri, L.; Brigati, S.; Del Buono, L.; Carlson, P.; Cattaneo, P.; Dadda, L.; David, J.; Engstrom, M.; Fumagalli, G.; Gatti, U.; Genat, J.F.; Goggi, G.; Hansen, M.; Hentzell, H.; Hoglund, I.; Inkinen, S.; Kerek, A.; Lebbolo, H.; LeDortz, O.; Lofstedt, B.; Maloberti, F.; Nayman, P.; Persson, S.T.; Piuri, V.; Salice, F.; Sami, M.; Savoy-Navarro, A.; Stefanelli, R.; Sundblad, R.; Svensson, C.; Torelli, G.; Vanuxem, J.P.; Yamdagni, N.; Yuan, J.; Zitoun, R.
Proceedings of 1994 International Conference on Wafer Scale Integration (ICWSI) Wafer Scale Integration, 1994. Proceedings., Sixth Annual IEEE International Conference on. :252-264 1994
Conference
Dell'Acqua, A.; Alippi, C.; Appelquist, G.; Benetta, R.; Berglund, S.; Bezemat, J.; Blouzon, F.; Bohm, C.; Breveglieri, L.; Brigati, S.; Carlson, P.; Cattaneo, P.; Dadda, L.; David, J.; Engstrom, M.; Furnagalli, G.; Gatti, U.; Genat, J.F.; Goggi, G.; Hansen, M.; Hentzell, H.; Hoglund, I.; Inkinen, S.; Kerek, A.; LeDortz, O.; Lofstedt, B.; Maloberti, F.; Nayman, P.; Persson, S.T.; Piuri, V.; Salice, F.; Sami, M.; Savoy-Navarro, A.; Schwemling, P.; Stefanelli, R.; Sundblad, R.; Svensson, C.; Torelli, G.; Vanuxem, J.P.; Yamdagni, N.; Yuan, J.; Odmark, A.
1993 IEEE Conference Record Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference Nuclear science and medical imaging Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, 1993., 1993 IEEE Conference Record.. :773-776 1993
Conference
Dell'Acqua, A.; Hansen, M.; Ikinen, S.; Lofstedt, B.; Vanuxem, J.P.; Svensson, C.; Yuan, J.; Hentzell, H.; Del Buono, L.; David, J.; Genat, J.F.; Lebbolo, H.; LeDortz, O.; Nayman, P.; Savoy-Navarro, A.; Zitoun, R.; Alippi, C.; Breveglieri, L.; Dadda, L.; Piuri, V.; Salice, F.; Sami, M.; Stefanelli, R.; Cattaneo, P.; Fumagalli, G.; Goggi, G.; Brigati, S.; Gatti, U.; Maloberti, F.; Torelli, G.; Carlson, P.; Kerek, A.; Appelquist, G.; Berglund, S.; Bohm, C.; Engstrom, M.; Yamdagni, N.; Sundblad, R.; Hoglund, I.; Persson, S.T.
Proceedings of 1993 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Defect and fault tolerance in VLSI systems Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1993., The IEEE International Workshop on. :1-8 1993
Academic Journal
Bohm, C.; Engstrom, M.; Hellman, S.; Holmgren, S.-O.; Prytz, K.; Silverstein, S.; Yamdagni, N.; Zhao, X.; Craciunescu, A.; Gustavsson, S.; Sundblad, R.; Bodo, P.; Haglund, J.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 44(3):358-362 Jun, 1997
Academic Journal
Dell'Acqua, A.; Alexanian, H.; Alippi, C.; Appelquist, G.; Bailly, P.; Benetta, R.; Berglund, S.; Bezamat, J.; Blouzon, F.; Bohm, C.; Breveglieri, L.; Brigati, S.; Carlson, P.; Cattaneo, P.; Dadda, L.; David, J.; Engstrom, M.; Fumagalli, G.; Gatti, U.; Genat, J.F.; Goggi, V.G.; Gong, S.F.; Hansen, M.; Hentzell, H.; Hoglund, I.; Inkinen, S.; Kerek, A.; LeDortz, O.; Lofstedt, B.; Maloberti, F.; Nayman, P.; Odmark, A.; Piuri, V.; Polesello, G.; Salice, F.; Sami, N.; Savoy-Navarro, A.; Stefanelli, R.; Sundblad, R.; Svensson, C.; Torelli, G.; Vanuxem, J.P.; Yamdagni, N.; Yuan, J.
IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology: Part B IEEE Trans. Comp., Packag., Manufact. Technol. B Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Part B: Advanced Packaging, IEEE Transactions on. 17(3):302-309 Aug, 1994
Conference
Alippi, C.; Appelquist, G.; Berglund, S.; Bohm, C.; Breveglieri, L.; Brigati, S.; Carlson, P.; Cattaneo, P.; Dadda, L.; Dell'Acqua, A.; Fuglesang, C.; Fumagalli, G.; Gatti, U.; Goggi, V.G.; Hansen, M.; Hentzell, H.; Kerek, A.; Lofstedt, B.; Maloberti, F.; Piuri, V.; Salice, F.; Sami, M.; Stefanelli, R.; Sundblad, R.; SveNSSMICon, C.; Torelli, G.; Vanuxem, J.P.; Yamdagni, N.; Yuan, J.
IEEE Conference on Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, 1992., Conference Record of the 1992 IEEE. :424-426 vol.1 1992
Academic Journal
Dell'Acqua, A.; Hansen, M.; Lofstedt, B.; Vanuxem, J.P.; Svensson, C.; Yuan, J.; Hentzell, H.; Alippi, C.; Breveglieri, L.; Dadda, L.; Piuri, V.; Salice, F.; Sami, M.; Stefanelli, R.; Cattaneo, P.; Fumagalli, G.; Goggi, V.G.; Brigati, S.; Gatti, U.; Maloberti, F.; Torelli, G.; Carlson, P.; Fuglesang, C.; Kerek, A.; Appelquist, G.; Berglund, S.; Bohm, C.; Yamdagni, N.; Sundblad, R.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 40(4):516-531 Aug, 1993
Academic Journal
Conference
Proceedings of IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC '93 Custom integrated circuits Custom Integrated Circuits Conference, 1993., Proceedings of the IEEE 1993. :16.3.1-16.3.4 1993
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