학술논문
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1~20
Academic Journal
Nakajima, H.; Shino, T.; Furuhashi, H.; Nishimura, J.; Kajiyama, T.; Higashi, T.; Fujita, K.; Hatsuda, K.; Fukuda, R.
In: Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers . (Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2 September 2024, 63(9))
A Floating Body Cell (FBC) fully Compatible with 90nm CMOS Technology Node for Embedded Applications
Conference
Hamamoto, T.; Minami, Y.; Shino, T.; Sakamoto, A.; Higashi, T.; Kusunoki, N.; Fujita, K.; Hatsuda, K.; Ohsawa, T.; Aoki, N.; Tanimoto, H.; Morikado, M.; Nakajima, H.; Inoh, K.; Nitayama, A.
2006 IEEE International Conference on IC Design and Technology Integrated Circuit Design and Technology, 2006. ICICDT '06. 2006 IEEE International Conference on. :1-6 2006
Conference
Minami, Y.; Shino, T.; Sakamoto, A.; Higashi, T.; Kusunoki, N.; Fujita, K.; Hatsuda, K.; Ohsawa, T.; Aoki, N.; Tanimoto, H.; Morikado, M.; Nakajima, H.; Inoh, K.; Hamamoto, T.; Nitayama, A.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :307-310 2005
Conference
Shino, T.; Higashi, T.; Kusunoki, N.; Fujita, K.; Ohsawa, T.; Aoki, N.; Tanimoto, H.; Minami, Y.; Yamada, T.; Morikado, M.; Nakajima, H.; Inoh, K.; Hamamoto, T.; Nitayama, A.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :281-284 2004
Conference
Ohsawa, T.; Higashi, T.; Fujita, K.; Ikehashi, T.; Kajiyama, T.; Fukuzumi, Y.; Shino, T.; Yamada, H.; Nakajima, H.; Minami, Y.; Yamada, T.; Inoh, K.; Hamamoto, T.
2003 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37408) VLSI circuits VLSI Circuits, 2003. Digest of Technical Papers. 2003 Symposium on. :93-96 2003
Academic Journal
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 12(3):431-438 Mar, 2012
Academic Journal
Hamamoto, T.; Fukuzumi, Y.; Higashi, T.; Nakajima, H.; Minami, Y.; Shino, T.; Ohsawa, T.; Nitayama, A.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 57(8):1781-1788 Aug, 2010
Conference
Nii, H.; Yamada, T.; Inoh, K.; Shino, T.; Kawanaka, S.; Minami, Y.; Fuse, T.; Morifuji, E.; Ohguro, T.; Yoshimi, M.; Katsumata, Y.; Watanabe, S.; Matsunaga, J.; Ishiuchi, H.
29th European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 1999. Proceeding of the 29th European. 1:212-215 1999
Conference
Yamada, T.; Nii, H.; Inoh, K.; Shino, T.; Kawanaka, S.; Minami, Y.; Fuse, T.; Yoshimi, Y.; Katsumata, Y.; Watanabe, S.; Matsunaga, J.; Ishiuchi, H.
Proceedings of the 1999 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (Cat. No.99CH37024) Bipolar/BiCMOS circuits and technology Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 1999. Proceedings of the 1999. :129-132 1999
Conference
1999 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. SISPAD'99 (IEEE Cat. No.99TH8387) Simulation of semiconductor processes and devices Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 1999. SISPAD '99. 1999 International Conference on. :19-22 1999
Academic Journal
Ohsawa, T.; Fukuda, R.; Higashi, T.; Fujita, K.; Matsuoka, F.; Shino, T.; Furuhashi, H.; Minami, Y.; Nakajima, H.; Hamamoto, T.; Watanabe, Y.; Nitayama, A.; Furuyama, T.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 56(10):2302-2311 Oct, 2009
Conference
Shino, T.; Inoh, K.; Yamada, T.; Nii, H.; Kawanaka, S.; Fuse, T.; Yoshimi, M.; Katsumata, Y.; Watanabe, S.; Matsunaga, J.
International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217) Electron devices - IEDM 1998 Electron Devices Meeting, 1998. IEDM '98. Technical Digest., International. :953-956 1998
Academic Journal
Hamamoto, T.; Minami, Y.; Shino, T.; Kusunoki, N.; Nakajima, H.; Morikado, M.; Yamada, T.; Inoh, K.; Sakamoto, A.; Higashi, T.; Fujita, K.; Hatsuda, K.; Ohsawa, T.; Nitayama, A.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 54(3):563-571 Mar, 2007
Academic Journal
Ohsawa, T.; Fujita, K.; Hatsuda, K.; Higashi, T.; Shino, T.; Minami, Y.; Nakajima, H.; Morikado, M.; Inoh, K.; Hamamoto, T.; Watanabe, S.; Fujii, S.; Furuyama, T.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 41(1):135-145 Jan, 2006
Conference
Ozaki, T.; Noauchi, M.; Habu, M.; Aoki, H.; Ishibashi, Y.; Shino, T.; Hamamoto, T.; Takashima, D.; Niiyama, H.; Nakasugi, T.; Shibata, T.; Kato, Y.; Nishimura, E.; Hattori, K.; Magoshi, T.; Sato, S.; Yamaguchi, H.; Sugihara, K.
Proceedings of International Electron Devices Meeting Electron devices Electron Devices Meeting, 1995. IEDM '95., International. :661-664 1995
Academic Journal
Shino, T.; Ohsawa, T.; Higashi, T.; Fujita, K.; Kusunoki, N.; Minami, Y.; Morikado, M.; Nakajima, H.; Inoh, K.; Hamamoto, T.; Nitayama, A.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 52(10):2220-2226 Oct, 2005
Academic Journal
Shino, T.; Yoshitomi, S.; Nii, H.; Kawanaka, S.; Inoh, K.; Yamada, T.; Fuse, T.; Katsumata, Y.; Yoshimi, M.; Watanabe, S.; Matsunaga, J.-I.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 49(3):414-421 Mar, 2002
Academic Journal
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 47(7):1536-1541 Jul, 2000
Conference
Fuse, T.; Oowaki, Y.; Yamada, T.; Kamoshida, M.; Ohta, A.; Shino, T.; Kawanaka, S.; Terauchi, M.; Yoshida, T.; Matsubara, G.; Yoshioka, S.; Watanabe, S.; Yoshimi, M.; Ohuchi, K.; Manabe, S.
1997 IEEE International Solids-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers Solid-state circuits Solid-State Circuits Conference, 1997. Digest of Technical Papers. 43rd ISSCC., 1997 IEEE International. :286-287 1997
Academic Journal
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 22(1):32-34 Jan, 2001
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