학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 160건 | 목록
1~20
Report
Poleski, R.; Ryu, Y. -H.; Udalski, A.; Zang, W.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Yang, H.; Kim, D. -J.; Lee, C. -U.; Park, B. -G.; Szymański, M. K.; Soszyński, I.; Ulaczyk, K.; Pietrukowicz, P.; Skowron, J.; Skowron, D.; Mróz, P.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Wrona, M.; Gromadzki, M.; Mróz, M.; Ratajczak, M.
Report
Mroz, P.; Dong, S.; Merand, A.; Shangguan, J.; Woillez, J.; Gould, A.; Udalski, A.; Eisenhauer, F.; Ryu, Y. -H.; Wu, Z.; Liu, Z.; Yang, H.; Bourdarot, G.; Defrere, D.; Drescher, A.; Fabricius, M.; Garcia, P.; Genzel, R.; Gillessen, S.; Honig, S. F.; Kreidberg, L.; Bouquin, J. -B. Le; Lutz, D.; Millour, F.; Ott, T.; Paumard, T.; Sauter, J.; Shimizu, T. T.; Straubmeier, C.; Subroweit, M.; Widmann, F.; Szymanski, M. K.; Soszynski, I.; Pietrukowicz, P.; Kozlowski, S.; Poleski, R.; Skowron, J.; Ulaczyk, K.; Gromadzki, M.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Wrona, M.; Mroz, M. J; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
ApJ 980, 47 (2025)
Report
Kondo, Iona; Yee, Jennifer C.; Bennett, David P.; Sumi, Takahiro; Koshimoto, Naoki; Bond, Ian A.; Gould, Andrew; Udalski, Andrzej; Shvartzvald, Yossi; Jung, Youn Kil; Zang, Weicheng; Bozza, Valerio; Bachelet, Etienne; Hundertmark, Markus P. G.; Rattenbury, Nicholas J.; Abe, F.; Barry, R.; Bhattacharya, A.; Donachie, M.; Fukui, A.; Fujii, H.; Hirao, Y.; Silva, S. Ishitani; Itow, Y.; Kirikawa, R.; Li, M. C. A.; Matsubara, Y.; Miyazaki, S.; Muraki, Y.; Olmschenk, G.; Ranc, C.; Satoh, Y.; Shoji, H.; Suzuki, D.; Tanaka, Y.; Tristram, P. J.; Yamawaki, T.; Yonehara, A.; Mróz, P.; Poleski, R.; Skowron, J.; Szymański, M. K.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Ulaczyk, P. Pietrukowicz K.; Rybicki, K. A.; Iwanek, P.; Wrona, M.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Kim, H. -W.; Shin, I. -G.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Ryu, Y. -H.; Beichman, C. A.; Bryden, G.; Novati, S. Calchi; Carey, S.; Gaudi, B. S.; Henderson, C. B.; Zhu, W.; Maoz, D.; Penny, M. T.; Dominik, M.; Jørgensen, U. G.; n}}a, P. Longa-Pe{\~{; Peixinho, N.; Sajadian, S.; Skottfelt, J.; Snodgrass, C.; Tregloan-Reed, J.; Burgdorf, M. J.; Campbell-White, J.; Dib, S.; Fujii, Y. I.; Hinse, T. C.; Khalouei, E.; Rahvar, S.; Rabus, M.; Southworth, J.; Tsapras, Y.; Street, R. A.; Bramich, D. M.; Cassan, A.; Horne, K.; Wambsganss, J.; Mao, S.; Saha, A.
Report
Mroz, P.; Poleski, R.; Gould, A.; Udalski, A.; Sumi, T.; Szymanski, M. K.; Soszynski, I.; Pietrukowicz, P.; Kozlowski, S.; Skowron, J.; Ulaczyk, K.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Kim, H. -W.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
Report
Herrera-Martín, Antonio; Albrow, M. D.; Udalski, A.; Gould, A.; Ryu, Y. -H.; Yee, J. C.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Lee, C. -U.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Zang, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Szymański, M. K.; Mróz, P.; Skowron, J.; Poleski, R.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Pietrukowicz, P.; Ulaczyk, K.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Wrona, M.
AJ 159 (2020) 6
Report
Shin, I. -G.; Yee, J. C.; Gould, A.; Penny, M. T.; Bond, I. A.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Ryu, Y. -H.; Shvartzvald, Y.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Abe, F.; Barry, R.; Bennett, D. P.; Bhattacharya, A.; Donachie, M.; Fujii, H.; Fukui, A.; Hirao, Y.; Itow, Y.; Kamei, Y.; Kondo, Iona; Koshimoto, N.; Li, M. C. A.; Matsubara, Y.; Miyazaki, S.; Muraki, Y.; Nagakane, M.; Ranc, C.; Rattenbury, N. J.; Suematsu, Harmon; Sullivan, D. J.; Sumi, T.; Suzuki, Daisuke; Tristram, P. J.; Yamakawa, T.; Yonehara, A.; Fouqué, P.; Zang, W.
Report
Mroz, P.; Udalski, A.; Bennett, D. P.; Ryu, Y. -H.; Sumi, T.; Shvartzvald, Y.; Skowron, J.; Poleski, R.; Pietrukowicz, P.; Kozlowski, S.; Szymanski, M. K.; Wyrzykowski, L.; Soszynski, I.; Ulaczyk, K.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Shin, I. -G.; Yee, J. C.; Zang, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Abe, F.; Barry, R.; Bhattacharya, A.; Bond, I. A.; Donachie, M.; Fukui, A.; Hirao, Y.; Itow, Y.; Kawasaki, K.; Kondo, I.; Koshimoto, N.; Li, M. C. A.; Matsubara, Y.; Muraki, Y.; Miyazaki, S.; Nagakane, M.; Ranc, C.; Rattenbury, N. J.; Suematsu, H.; Sullivan, D. J.; Suzuki, D.; Tristram, P. J.; Yonehara, A.; Maoz, D.; Kaspi, S.; Friedmann, M.
A&A 622, A201 (2019)
Report
Han, C.; Jung, Y. K.; Udalski, A.; Bond, I.; Bozza, V.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Hwang, K. -H.; Kim, D.; Lee, C. -U.; Kim, H. -W.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Yee, J. C.; Shvartzvald, Y.; Cha, S. -M.; Kim, S. -L.; Kim, D. -J.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Szymański, M. K.; Mróz, P.; Skowron, J.; Poleski, R.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Pietrukowicz, P.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Abe, F.; Barry, R.; Bennett, D. P.; Bhattacharya, A.; Donachie, M.; Evans, P.; Fukui, A.; Hirao, Y.; Itow, Y.; Kawasaki, K.; Koshimoto, N.; Li, M. C. A.; Ling, C. H.; Matsubara, Y.; Miyazaki, S.; Munakata, H.; Muraki, Y.; Nagakane, M.; Ohnishi, K.; Ranc, C.; Rattenbury, N.; Saito, T.; Sharan, A.; Sullivan, D. J.; Sumi, T.; Suzuki, D.; Tristram, P. J.; Yamada, T.; Yonehara, A.
Report
Jung, Y. K.; Han, C.; Udalski, A.; Gould, A.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Hwang, K. -H.; Lee, C. -U.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Kim, W. -T.; Mróz, P.; Poleski, R.; Skowron, J.; Szymański, M. K.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Pietrukowicz, P.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.
Report
Miyazaki, S.; Sumi, T.; Bennett, D. P.; Gould, A.; Udalski, A.; Bond, I. A.; Koshimoto, N.; Nagakane, M.; Rattenbury, N.; Abe, F.; Bhattacharya, A.; Barry, R.; Donachie, M.; Fukui, A.; Hirao, Y.; Itow, Y.; Kawasaki, K.; Li, M. C.; Ling, C. H.; Matsubara, Y.; Matsuo, T.; Muraki, Y.; Ohnishi, K.; Ranc, C.; Saito, T.; Sharan, A.; Shibai, H.; Suematsu, H.; Suzuki, D.; Sullivan, D. J.; Tristram, P. J.; Yamada, T.; Yonehara, A.; owski, S.; Mr'oz, P.; Pawlak, M.; Poleski, R.; Pietrukowicz, P.; Skowron, J.; Soszy'nski, I.; Szyma'nski, M. K.; Ulaczyk, K.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Jung, Y. K.; Hwang, K. -H.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
Report
Han, C.; Hirao, Y.; Udalski, A.; Lee, C. -U.; Bozza, V.; Gould, A.; Abe, F.; Barry, R.; Bond, I. A.; Bennett, D. P.; Bhattacharya, A.; Donachie, M.; Evans, P.; Fukui, A.; Itow, Y.; Kawasaki, K.; Koshimoto, N.; Li, M. C. A.; Ling, C. H.; Matsubara, Y.; Miyazaki, S.; Munakata, H.; Muraki, Y.; Nagakane, M.; Ohnishi, K.; Ranc, C.; Rattenbury, N.; Saito, T.; Sharan, A.; Sullivan, D. J.; Sumi, T.; Suzuki, D.; Tristram, P. J.; Yamada, T.; Yonehara, A.; Mróz, P.; Poleski, R.; Kozłowski, S.; Soszyński, I.; Pietrukowicz, P.; Skowron, J.; Szymańsk, M. K.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Kim, D.; Kim, W. -T.; Kim, H. -W.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, S. -L.; Kim, D. -J.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
Report
Jung, Y. K.; Udalski, A.; Gould, A.; Ryu, Y. -H.; Yee, J. C.; Han, C.; Albrow, M. D.; Lee, C. -U.; Kim, S. -L.; Hwang, K. -H.; Chung, S. -J.; Shin, I. -G.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Lee, D. -J.; Kim, H. -W.; Pogge, R. W.; Szymański, M. K.; Mróz, P.; Poleski, R.; Skowron, J.; Pietrukowicz, P.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Rybicki, K.
Report
Novati, S. Calchi; Skowron, J.; Jung, Y. K.; Beichman, C.; Bryden, G.; Carey, S.; Gaudi, B. S.; Henderson, C. B.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zhu, W.; Udalski, A.; Szymański, M. K.; Mróz, P.; Poleski, R.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Pietrukowicz, P.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Zang, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
The Astronomical Journal, 155, 261, (2018)
Report
Han, C.; Novati, S. Calchi; Udalski, A.; Lee, C. -U.; Gould, A.; Bozza, V.; Mróz, P.; Pietrukowicz, P.; Skowron, J.; Szymański, M. K.; Poleski, R.; Soszyński, I.; Kozłowski, S.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.; Kim, W. -T.; Beichman, C.; Bryden, G.; Carey, S.; Gaudi, B. S.; Henderson, C. B.; Dominik, M.; Helling, C.; Hundertmark, M.; Jørgensen, U. G.; Longa-Peña, P.; Lowry, S.; Sajadian, S.; Burgdorf, M. J.; Campbell-White, J.; Ciceri, S.; Evans, D. F.; Haikala, L. K.; Hinse, T. C.; Rahvar, S.; Rabus, M.; Snodgrass, C.
Report
Skowron, J.; Ryu, Y. -H.; Hwang, K. -H.; Udalski, A.; Mróz, P.; Kozłowski, S.; Soszyński, I.; Pietrukowicz, P.; Szymański, M. K.; Poleski, R.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Rybicki, K.; Iwanek, P.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Han, C.; Jung, Y. K.; Shin, I. -G.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Zang, W.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
Report
Albrow, M. D.; Yee, J. C.; Udalski, A.; Novati, S. Calchi; Carey, S.; Henderson, C. B.; Beichman, C.; Bryden, G.; Gaudi, B. S.; Shvartzvald, Y.; Szymanśki, M. K.; Mroź, P.; Skowron, J.; Poleski, R.; Soszynśki, I.; Kozlowski, S.; Pietrukowicz, .; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Chung, S. -J.; Gould, A.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
Report
Wang, Tianshu; Novati, S. Calchi; Udalski, A.; Gould, A.; Mao, Shude; Zang, W.; Beichman, C.; Bryden, G.; Carey, S.; Gaudi, B. S.; Henderson, C. B.; Shvartzvald, Y.; Yee, J. C.; Mroz, P.; Poleski, R.; Skowron, J.; Szymanski, M. K.; Soszynski, I.; Kozlowski, S.; Pietrukowicz, P.; Ulaczyk, K.; Pawlak, M.; Albrow, M. D.; Chung, S. -J.; Han, C.; Hwang, K. -H.; Jung, Y. K.; Ryu, Y. -H.; Shin, I. -G.; Zhu, W.; Cha, S. -M.; Kim, D. -J.; Kim, H. -W.; Kim, S. -L.; Lee, C. -U.; Lee, D. -J.; Lee, Y.; Park, B. -G.; Pogge, R. W.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Shin, I. -G.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어