학술논문
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Conference
Jenihhin, M.; Hamdioui, S.; Reorda, M. Sonza; Krstic, M.; Langendorfer, P.; Sauer, C.; Klotz, A.; Huebner, M.; Nolte, J.; Vierhaus, H. T.; Selimis, G.; Alexandrescu, D.; Taouil, M.; Schrijen, G. J.; Raik, J.; Sterpone, L.; Squillero, G.; Dyka, Z.
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). :388-393 Mar, 2020
Book
Isse 2006 - Securing Electronic Busines Processes; 2006, p196-203, 8p
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[AR] Schrijen, G. J.
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