학술논문
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1~20
Academic Journal
Detrez, Eloïse ; Kerzérho, Vincent ; Belhaj, Mohamed-Moez ; Vergnet, Alain ; de Verdal, Hugues ; Rouyer, Tristan ; Bonhommeau, Sylvain ; Lamlih, Achraf ; Julien, Mohan ; Ben Ali, Fathi ; Renovell, Michel ; Bernard, Serge ; Soulier, Fabien
In Aquaculture 30 January 2022 547
Academic Journal
Conference
2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS) Latin American Test Symposium (LATS), 2023 IEEE 24th. :1-6 Mar, 2023
Academic Journal
Larguech, Syhem; Azaïs, Florence ; Bernard, Serge; Comte, Mariane; Kerzérho, Vincent; Renovell, Michel
In Microelectronics Journal November 2015 46(11):1091-1102
Academic Journal
In Microelectronics Journal October 2014 45(10):1348-1353
Academic Journal
Ayari, Haithem; Azaïs, Florence; Bernard, Serge; Comte, Mariane; Kerzérho, Vincent ; Renovell, Michel
In Microelectronics Journal March 2014 45(3):336-344
Conference
2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS) Latin American Test Symposium (LATS), 2019 IEEE. :1-6 Mar, 2019
Conference
2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS) Test Symposium (LATS), 2018 IEEE 19th Latin-American. :1-5 Mar, 2018
Conference
2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) ISVLSI VLSI (ISVLSI), 2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :320-325 Jul, 2017
Conference
2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) VLSI (ISVLSI), 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :164-169 Jul, 2016
Conference
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS) Test Symposium (LATS), 2016 17th Latin-American. :129-134 Apr, 2016
Academic Journal
Andrade, Antonio, Jr. ; Vieira, Gustavo ; Balen, Tiago R. ; Lubaszewski, Marcelo ; Azaïs, Florence ; Renovell, Michel
In Microelectronics Journal December 2005 36(12):1112-1123
Conference
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2019 IEEE European. :1-2 May, 2019
Conference
Vatajelu, Elena I.; Rodriguez-Montanes, Rosa; Indaco, Marco; Renovell, Michel; Prinetto, Paolo; Figueras, Joan
2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015. :447-452 Mar, 2015
Conference
Andraud, Martin; Deluthault, Anthony; Dieng, Mouhamadou; Azais, Florence; Bernard, Serge; Cauvet, Philippe; Comte, Mariane; Kervaon, Thibault; Kerzerho, Vincent; Mir, Salvador; Pugliesi-Conti, Paul-Henri; Renovell, Michel; Soulier, Fabien; Simeu, Emmanuel; Stratigopoulos, Haralampos-G.
2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2014 IEEE 20th International. :234-239 Jul, 2014
Conference
Larguech, Syhem; Azais, Florence; Bernard, Serge; Kerzerho, Vincent; Comte, Mariane; Renovell, Michel
2014 15th Latin American Test Workshop - LATW Test Workshop - LATW, 2014 15th Latin American. :1-6 Mar, 2014
Conference
Ayari, Haithem; Azais, Florence; Bernard, Serge; Comte, Mariane; Kerzerho, Vincent; Potin, Olivier; Renovell, Michel
2012 IEEE International Test Conference Test Conference (ITC), 2012 IEEE International. :1-9 Nov, 2012
Conference
Ayari, Haythem; Azais, Florence; Bernard, Serge; Comte, Mariane; Kerzerho, Vincent; Potin, Olivier; Renovell, Michel
2012 IEEE 18th International Mixed-Signal, Sensors, and Systems Test Workshop Mixed-Signals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW), 2012 18th International. :34-39 May, 2012
Conference
Ayari, Haithem; Azais, Florence; Bernard, Serge; Comte, Mariane; Renovell, Michel; Kerzerho, Vincent; Potin, Olivier; Kelma, Christophe
2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) VLSI Test Symposium (VTS), 2012 IEEE 30th. :19-24 Apr, 2012
Conference
2012 13th Latin American Test Workshop (LATW) Test Workshop (LATW), 2012 13th Latin American. :1-6 Apr, 2012
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[AR] Renovell, Michel
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