학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 63건 | 목록
1~10
Academic Journal
In Procedia Manufacturing 2018 18:104-111
Academic Journal
In: Journal of Manufacturing Science and Engineering . (Journal of Manufacturing Science and Engineering, 1 October 2023, 145(10))
Academic Journal
In: Journal of Manufacturing Science and Engineering . (Journal of Manufacturing Science and Engineering, October 2023, 145(10))
Academic Journal
Abbasi, R.; Abdou, Y.; Ackermann, M.; Adams, J.; Aguilar, J.A.; Ahlers, M.; Andeen, K.; Auffenberg, J.; Bai, X.; Baker, M.; Barwick, S.W.; Bay, R.; Bazo Alba, J.L.; Beattie, K.; Beatty, J.J.; Bechet, S.; Becker, J.K.; Becker, K.-H.; Benabderrahmane, M.L.; Berdermann, J.; Berghaus, P.; Berley, D.; Bernardini, E.; Bertrand, D.; Besson, D.Z.; Bissok, M.; Blaufuss, E.; Boersma, D.J.; Bohm, C.; Bolmont, J.; Böser, S.; Botner, O.; Bradley, L.; Braun, J.; Breder, D.; Castermans, T.; Chirkin, D.; Christy, B.; Clem, J.; Cohen, S.; Cowen, D.F.; D’Agostino, M.V.; Danninger, M.; Day, C.T.; De Clercq, C.; Demirörs, L.; Depaepe, O.; Descamps, F.; Desiati, P.; de Vries-Uiterweerd, G.; DeYoung, T.; Diaz-Velez, J.C.; Dreyer, J.; Dumm, J.P.; Duvoort, M.R.; Edwards, W.R.; Ehrlich, R.; Eisch, J.; Ellsworth, R.W.; Engdegård, O.; Euler, S.; Evenson, P.A.; Fadiran, O.; Fazely, A.R.; Feusels, T.; Filimonov, K.; Finley, C.; Foerster, M.M.; Fox, B.D.; Franckowiak, A.; Franke, R.; Gaisser, T.K.; Gallagher, J.; Ganugapati, R.; Gerhardt, L.; Gladstone, L.; Goldschmidt, A.; Goodman, J.A.; Gozzini, R.; Grant, D.; Griesel, T.; Groß, A.; Grullon, S.; Gunasingha, R.M.; Gurtner, M.; Ha, C.; Hallgren, A.; Halzen, F.; Han, K.; Hanson, K.; Hasegawa, Y.; Heise, J.; Helbing, K.; Herquet, P.; Hickford, S.; Hill, G.C.; Hoffman, K.D.; Hoshina, K.; Hubert, D.; Huelsnitz, W.; Hülß, J.-P.; Hulth, P.O.; Hultqvist, K.; Hussain, S.; Imlay, R.L.; Inaba, M.; Ishihara, A.; Jacobsen, J.; Japaridze, G.S.; Johansson, H.; Joseph, J.M.; Kampert, K.-H.; Kappes, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J.L.; Kenny, P.; Kiryluk, J.; Kislat, F.; Klein, S.R.; Klepser, S.; Knops, S.; Kohnen, G.; Kolanoski, H.; Köpke, L.; Kowalski, M.; Kowarik, T.; Krasberg, M.; Kuehn, K.; Kuwabara, T.; Labare, M.; Lafebre, S.; Laihem, K.; Landsman, H.; Lauer, R.; Leich, H.; Lennarz, D.; Lucke, A.; Lundberg, J.; Lünemann, J.; Madsen, J.; Majumdar, P.; Maruyama, R.; Mase, K.; Matis, H.S.; McParland, C.P.; Meagher, K.; Merck, M.; Mészáros, P.; Middell, E.; Milke, N.; Miyamoto, H.; Mohr, A.; Montaruli, T.; Morse, R.; Movit, S.M.; Münich, K.; Nahnhauer, R.; Nam, J.W.; Nießen, P.; Nygren, D.R.; Odrowski, S.; Olivas, A.; Olivo, M.; Ono, M.; Panknin, S.; Patton, S.; Pérez de los Heros, C.; Petrovic, J.; Piegsa, A.; Pieloth, D.; Pohl, A.C.; Porrata, R.; Potthoff, N.; Price, P.B.; Prikockis, M.; Przybylski, G.T.; Rawlins, K.; Redl, P.; Resconi, E.; Rhode, W.; Ribordy, M.; Rizzo, A.; Rodrigues, J.P.; Roth, P.; Rothmaier, F.; Rott, C.; Roucelle, C.; Rutledge, D.; Ryckbosch, D.; Sander, H.-G.; Sarkar, S.; Satalecka, K.; Schlenstedt, S.; Schmidt, T.; Schneider, D.; Schukraft, A.; Schulz, O.; Schunck, M.; Seckel, D.; Semburg, B.; Seo, S.H.; Sestayo, Y.; Seunarine, S.; Silvestri, A.; Slipak, A.; Spiczak, G.M.; Spiering, C.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stephens, G.; Stezelberger, T.; Stokstad, R.G.; Stoufer, M.C.; Stoyanov, S.; Strahler, E.A.; Straszheim, T.; Sulanke, K.-H.; Sullivan, G.W.; Swillens, Q.; Taboada, I.; Tarasova, O.; Tepe, A.; Ter-Antonyan, S.; Terranova, C.; Tilav, S.; Tluczykont, M.; Toale, P.A.; Tosi, D.; Turčan, D.; van Eijndhoven, N.; Vandenbroucke, J.; Van Overloop, A.; Vogt, C.; Voigt, B.; Walck, C.; Waldenmaier, T.; Walter, M.; Wendt, C.; Westerhoff, S.; Whitehorn, N.; Wiebusch, C.H.; Wiedemann, A.; Wikström, G.; Williams, D.R.; Wischnewski, R.; Wissing, H.; Woschnagg, K.; Xu, X.W.; Yodh, G.; Yoshida, S.
In Astroparticle Physics 2010 33(5):277-286
Academic Journal
Abbasi, R.; Ackermann, M.; Adams, J.; Ahlers, M.; Ahrens, J.; Andeen, K.; Auffenberg, J.; Bai, X.; Baker, M.; Barwick, S.W.; Bay, R.; Bazo Alba, J.L.; Beattie, K.; Becka, T.; Becker, J.K.; Becker, K.-H.; Berghaus, P.; Berley, D.; Bernardini, E.; Bertrand, D.; Besson, D.Z.; Bingham, B.; Blaufuss, E.; Boersma, D.J.; Bohm, C.; Bolmont, J.; Böser, S.; Botner, O.; Braun, J.; Breeder, D.; Burgess, T.; Carithers, W.; Castermans, T.; Chen, H.; Chirkin, D.; Christy, B.; Clem, J.; Cowen, D.F.; D’Agostino, M.V.; Danninger, M.; Davour, A.; Day, C.T.; Depaepe, O.; De Clercq, C.; Demirörs, L.; Descamps, F.; Desiati, P.; de Vries-Uiterweerd, G.; DeYoung, T.; Diaz-Velez, J.C.; Dreyer, J.; Dumm, J.P.; Duvoort, M.R.; Edwards, W.R.; Ehrlich, R.; Eisch, J.; Ellsworth, R.W.; Engdegård, O.; Euler, S.; Evenson, P.A.; Fadiran, O.; Fazely, A.R.; Feusels, T.; Filimonov, K.; Finley, C.; Foerster, M.M.; Fox, B.D.; Franckowiak, A.; Franke, R.; Gaisser, T.K.; Gallagher, J.; Ganugapati, R.; Gerhardt, L.; Gladstone, L.; Glowacki, D.; Goldschmidt, A.; Goodman, J.A.; Gozzini, R.; Grant, D.; Griesel, T.; Groß, A.; Grullon, S.; Gunasingha, R.M.; Gurtner, M.; Ha, C.; Hallgren, A.; Halzen, F.; Han, K.; Hanson, K.; Hardtke, R.; Hasegawa, Y.; Haugen, J.; Hays, D.; Heise, J.; Helbing, K.; Hellwig, M.; Herquet, P.; Hickford, S.; Hill, G.C.; Hodges, J.; Hoffman, K.D.; Hoshina, K.; Hubert, D.; Huelsnitz, W.; Hughey, B.; Hülß, J.-P.; Hulth, P.O.; Hultqvist, K.; Hussain, S.; Imlay, R.L.; Inaba, M.; Ishihara, A.; Jacobsen, J.; Japaridze, G.S.; Johansson, H.; Jones, A.; Joseph, J.M.; Kampert, K.-H.; Kappes, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kawai, H.; Kelley, J.L.; Kiryluk, J.; Kislat, F.; Klein, S.R.; Kleinfelder, S.; Klepser, S.; Kohnen, G.; Kolanoski, H.; Köpke, L.; Kowalski, M.; Kowarik, T.; Krasberg, M.; Kuehn, K.; Kujawski, E.; Kuwabara, T.; Labare, M.; Laihem, K.; Landsman, H.; Lauer, R.; Laundrie, A.; Leich, H.; Leier, D.; Lewis, C.; Lucke, A.; Ludvig, J.; Lundberg, J.; Lünemann, J.; Madsen, J.; Maruyama, R.; Mase, K.; Matis, H.S.; McParland, C.P.; Meagher, K.; Meli, A.; Merck, M.; Messarius, T.; Mészáros, P.; Minor, R.H.; Miyamoto, H.; Mohr, A.; Mokhtarani, A.; Montaruli, T.; Morse, R.; Movit, S.M.; Münich, K.; Muratas, A.; Nahnhauer, R.; Nam, J.W.; Nießen, P.; Nygren, D.R.; Odrowski, S.; Olivas, A.; Olivo, M.; Ono, M.; Panknin, S.; Patton, S.; Pérez de los Heros, C.; Petrovic, J.; Piegsa, A.; Pieloth, D.; Pohl, A.C.; Porrata, R.; Potthoff, N.; Pretz, J.; Price, P.B.; Przybylski, G.T.; Rawlins, K.; Razzaque, S.; Redl, P.; Resconi, E.; Rhode, W.; Ribordy, M.; Rizzo, A.; Robbins, W.J.; Rodrigues, J.P.; Roth, P.; Rothmaier, F.; Rott, C.; Roucelle, C.; Rutledge, D.; Ryckbosch, D.; Sander, H.-G.; Sarkar, S.; Satalecka, K.; Sandstrom, P.; Schlenstedt, S.; Schmidt, T.; Schneider, D.; Schulz, O.; Seckel, D.; Semburg, B.; Seo, S.H.; Sestayo, Y.; Seunarine, S.; Silvestri, A.; Smith, A.J.; Song, C.; Sopher, J.E.; Spiczak, G.M.; Spiering, C.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stokstad, R.G.; Stoufer, M.C.; Stoyanov, S.; Strahler, E.A.; Straszheim, T.; Sulanke, K.-H.; Sullivan, G.W.; Swillens, Q.; Taboada, I.; Tarasova, O.; Tepe, A.; Ter-Antonyan, S.; Tilav, S.; Tluczykont, M.; Toale, P.A.; Tosi, D.; Turčan, D.; van Eijndhoven, N.; Vandenbroucke, J.; Van Overloop, A.; Viscomi, V.; Vogt, C.; Voigt, B.; Vu, C.Q.; Wahl, D.; Walck, C.; Waldenmaier, T.; Waldmann, H.; Walter, M.; Wendt, C.; Westerhof, S.; Whitehorn, N.; Wharton, D.; Wiebusch, C.H.; Wiedemann, C.; Wikström, G.; Williams, D.R.; Wischnewski, R.; Wissing, H.; Woschnagg, K.; Xu, X.W.; Yodh, G.; Yoshida, S.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2009 601(3):294-316
Academic Journal
In: Manufacturing Letters , 50th SME North American Manufacturing Research Conference (NMRC 50,2022). (Manufacturing Letters, September 2022, 33:380-387)
Academic Journal
In: Manufacturing Letters , 50th SME North American Manufacturing Research Conference (NMRC 50,2022). (Manufacturing Letters, September 2022, 33:373-379)
Academic Journal
In: Production Engineering . (Production Engineering, 2021)
Report
Abbasi, R.; Abdou, Y.; Abu-Zayyad, T.; Adams, J.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Andeen, K.; Auffenberg, J.; Bai, X.; Baker, M.; Barwick, S. W.; Bay, R.; Alba, J. L. Bazo; Beattie, K.; Beatty, J. J.; Bechet, S.; Becker, J. K.; Becker, K. -H.; Benabderrahmane, M. L.; Berdermann, J.; Berghaus, P.; Berley, D.; Bernardini, E.; Bertrand, D.; Besson, D. Z.; Bissok, M.; Blaufuss, E.; Boersma, D. J.; Bohm, C.; Bolmont, J.; Botner, O.; Bradley, L.; Braun, J.; Breder, D.; Carson, M.; Castermans, T.; Chirkin, D.; Christy, B.; Clem, J.; Cohen, S.; Cowen, D. F.; D'Agostino, M. V.; Danninger, M.; Day, C. T.; De Clercq, C.; Demiroers, L.; Depaepe, O.; Descamps, F.; Desiati, P.; de Vries-Uiterweerd, G.; DeYoung, T.; Di-az-Velez, J. C.; Dreyer, J.; Dumm, J. P.; Duvoort, M. R.; Edwards, W. R.; Ehrlich, R.; Eisch, J.; Ellsworth, R. W.; Engdegard, O.; Euler, S.; Evenson, P. A.; Fadiran, O.; Fazely, A. R.; Feusels, T.; Filimonov, K.; Finley, C.; Foerster, M. M.; Fox, B. D.; Franckowiak, A.; Franke, R.; Gaisser, T. K.; Gallagher, J.; Ganugapati, R.; Gerhardt, L.; Gladstone, L.; Goldschmidt, A.; Goodman, J. A.; Gozzini, R.; Grant, D.; Griesel, T.; Gross, A.; Grullon, S.; Gunasingha, R. M.; Gurtner, M.; Ha, C.; Hallgren, A.; Halzen, F.; Han, K.; Hanson, K.; Hasegawa, Y.; Helbing, K.; Herquet, P.; Hickford, S.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Homeier, A.; Hoshina, K.; Hubert, D.; Huelsnitz, W.; Hulss, J. -P.; Hulth, P. O.; Hultqvist, K.; Hussain, S.; Imlay, R. L.; Inaba, M.; Ishihara, A.; Jacobsen, J.; Japaridze, G. S.; Johansson, H.; Joseph, J. M.; Kampert, K. -H.; Kappes, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kemming, N.; Kenny, P.; Kiryluk, J.; Kislat, F.; Klein, S. R.; Knops, S.; Kohnen, G.; Kolanoski, H.; Koepke, L.; Koskinen, D. J.; Kowalski, M.; Kowarik, T.; Krasberg, M.; Krings, T.; Kroll, G.; Kuehn, K.; Kuwabara, T.; Labare, M.; Lafebre, S.; Laihem, K.; Landsman, H.; Lauer, R.; Lehmann, R.; Lennarz, D.; Lucke, A.; Luenemann, J.; Lundberg, J.; Madsen, J.; Majumdar, P.; Maruyama, R.; Mase, K.; Matis, H. S.; McParland, C. P.; Meagher, K.; Merck, M.; Meszaros, P.; Meures, T.; Middell, E.; Milke, N.; Miyamoto, H.; Montaruli, T.; Morse, R.; Movit, S. M.; Nahnhauer, R.; Nam, J. W.; Niessen, P.; Nygren, D. R.; Odrowski, S.; Olivas, A.; Olivo, M.; Ono, M.; Panknin, S.; Patton, S.; Paul, L.; Heros, C. Perez de los; Petrovic, J.; Piegsa, A.; Pieloth, D.; Pohl, A. C.; Porrata, R.; Potthoff, N.; Price, P. B.; Prikockis, M.; Przybylski, G. T.; Rawlins, K.; Redl, P.; Resconi, E.; Rhode, W.; Ribordy, M.; Rizzo, A.; Rodrigues, J. P.; Roth, P.; Rothmaier, F.; Rott, C.; Roucelle, C.; Rutledge, D.; Ruzybayev, B.; Ryckbosch, D.; Sander, H. -G.; Sarkar, S.; Schatto, K.; Schlenstedt, S.; Schmidt, T.; Schneider, D.; Schukraft, A.; Schulz, O.; Schunck, M.; Seckel, D.; Semburg, B.; Seo, S. H.; Sestayo, Y.; Seunarine, S.; Silvestri, A.; Slipak, A.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stephens, G.; Stezelberger, T.; Stokstad, R. G.; Stoufer, M. C.; Stoyanov, S.; Strahler, E. A.; Straszheim, T.; Sulanke, K. -H.; Sullivan, G. W.; Swillens, Q.; Taboada, I.; Tamburro, A.; Tarasova, O.; Tepe, A.; Ter-Antonyan, S.; Terranova, C.; Tilav, S.; Toale, P. A.; Tooker, J.; Tosi, D.; Turcan, D.; van Eijndhoven, N.; Vandenbroucke, J.; Van Overloop, A.; van Santen, J.; Voigt, B.; Walck, C.; Waldenmaier, T.; Wallraff, M.; Walter, M.; Wendt, C.; Westerhoff, S.; Whitehorn, N.; Wiebe, K.; Wiebusch, C. H.; Wiedemann, A.; Wikstrom, G.; Williams, D. R.; Wischnewski, R.; Wissing, H.; Woschnagg, K.; Xu, C.; Xu, X. W.; Yodh, G.; Yoshida, S.
Academic Journal
In: International Journal of Advanced Manufacturing Technology . (International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 19 June 2019, 102(5-8):1405-1419)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Potthoff, N.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어