학술논문

	o	ㅋ	ㄱ	ㅅ	ㅈ	ㅌ	ㄷ	촉	ㄴ	ㅎ	ㅂ	ㅃ	ㅁ	야	ㄹ	와
ㅏ	あ a	ぁ	か ka	が ga	さ sa	ざ za	た ta	だ da		な na	は ha	ば ba	ぱ pa	ま ma	や ya	ゃ lya	ら ra	わ wa	ゎ lwa	ん n
l	い i	ぃ	き ki	ぎ gi	し si	じ zi	ち ti	ぢ di		に ni	ひ hi	び bi	ぴ pi	み mi			り ri
ㅜ	う u	ぅ	く ku	ぐ gu	す su	ず zu	つ tu	づ du	っ	ぬ nu	ふ hu	ぶ bu	ぷ pu	む mu	ゆ yu	ゅ lyu	る ru
ㅔ	え e	ぇ	け ke	げ ge	せ se	ぜ ze	て te	で de		ね ne	へ he	べ be	ぺ pe	め me			れ re
ㅗ	お o	ぉ	こ ko	ご go	そ so	ぞ zo	と to	ど do		の no	ほ ho	ぼ bo	ぽ po	も mo	よ yo	ょ lyo	ろ ro	を wo

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ㅏ	ア a	ァ	カ ka	ガ ga	サ sa	ザ za	タ ta	ダ da		ナ na	ハ ha	バ ba	パ pa	マ ma	ヤ ya	ャ lya	ラ ra	ワ wa	ヮ lwa		ン n
l	イ i	ィ	キ ki	ギ gi	シ si	ジ zi	チ ti	ヂ di		ニ ni	ヒ hi	ビ bi	ピ pi	ミ mi			リ ri
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ㅔ	エ e	ェ	ケ ke	ゲ ge	セ se	ゼ ze	テ te	デ de		ネ ne	ヘ he	ベ be	ぺ pe	メ me			レ re
ㅗ	オ o	ォ	コ ko	ゴ go	ソ so	ゾ zo	ト to	ド do		ノ no	ホ ho	ボ bo	ポ po	モ mo	ヨ yo	ョ lyo	ロ ro	ヲ wo		ーー

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발행년	- (예 : 2010-2015)

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Technology for the fabrication of A 1 MB CMOS DRAM

Conference

Yaney, D.S.; Desko, J.C.; Kelly, M.J.; Lancaster, L.T.; Lin, A.M.-R.; Manocha, A.S.; McGuire, T.K.; Peiffer, F.R.; Kirsch, H.C.

1985 International Electron Devices Meeting IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting, 1985 International. :698-701 1985

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Band mixing in light nuclei: Treatment of hole excitations and importance of isospin

Academic Journal

Peiffer, F.R.; Zurmühle, R.W.; Balamuth, D.P.

In: Physics Letters B. (Physics Letters B, 10 May 1976, 62(1):19-21)

Full Text (ScienceDirect 종량제) Web of Science JCR 저널정보 Scopus Find it@PNU

Technical summary for the foundry data exchange system

Conference

Braun, C.P.; Krupka, G.; Peiffer, F.R.; Polk, T.A.; Roadcap, E.E.; Sosik, J.M.; Van Allen, G.P.; Wilkinson, W.P.

In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2005, 5992(2))

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On-product metrology results from MEBES 4-TFE System

Conference

Braun, C.P.; Peiffer, F.R.

In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 16th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1996, 2884:37-45)

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Lithography tricks and tribulations

Conference

Garofalo, J.G.; Watson, P.G.; Trimble, L.E.; Cirelli, R.A.; Colina, A.; Herrero, B.; Dunbar, A.; Grodnensky, I.M.; Takahashi, R.; Zych, L.J.; Peiffer, F.R.; Tarascon-Auriol, R.G.; Yarbrough, W.J.

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