학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 93건 | 목록
1~10
Conference
Muller, J.; Pfefferling, B.; Merbeth, T.; Otani, Y.; Hazen, D. Sanchez; Hula, T.; Mansueto, M.; Titova, A.; Ramasubramanian, L.; Grimm, C. V.-B.; Weisheit, M.; Wolf, G.; Kriegerstein, V.; Vogel, A.; Scharf, P.; Wang, Y.; Huang, Y.; Komma, V. S.; Sankar, R. Uma; Yoon, H.; Kallensee, O.; Naik, V. B.; Soss, S.
2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024 8th IEEE. :1-3 Mar, 2024
Conference
Naik, V. B.; Yamane, K.; Kwon, J.; Lim, J.H.; Balasankaran, N.; Chung, N.L.; Hau, L.Y.; Chao, R.; Chiang, C.; Huang, Y.; Pu, L.; Ma, L.; Meng, C.; Otani, Y.; Zhang, L.; Jang, S.H.; Ling, T.; Ting, J.W.; Yoon, H.; Mueller, J.; Pfefferling, B.; Kallensee, O.; Merbeth, T.; Seet, C.S.; Wong, J.; You, Y.S.; Soss, S.; Chan, T.H.; Siah, S.Y.
2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2022 6th IEEE. :366-368 Mar, 2022
Conference
Lee, T. Y.; Yamane, K.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Naik, V. B.; Sivabalan, K.; Kwon, J.; Lim, J. H.; Neo, W. P.; Khua, K.; Thiyagarajah, N.; Jang, S. H.; Behin-Aein, B.; Toh, E. H.; Otani, Y.; Zeng, D.; Balasankaran, N.; Goh, L. C.; Ling, T.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Tan, S. L; Seet, C. S.; Ting, J. W.; Ong, S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Quek, E.; Siah, S. Y.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-4 Apr, 2020
Conference
Lim, J. H.; Raghavan, N.; Kwon, J. H.; Lee, T. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Yamane, K.; Thiyagarajah, N.; Naik, V. B.; Pey, K. L.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-5 Apr, 2020
Conference
Naik, V. B.; Lim, J. H.; Yamane, K.; Zeng, D.; Yang, H.; Thiyagarajah, N.; Kwon, J.; Chung, N. L.; Chao, R.; Ling, T.; Lee, K.
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019 IEEE International. :1-4 Mar, 2019
Conference
Naik, V. B.; Lim, J. H.; Yamane, K.; Kwon, J.; B., Behin-Aein; Chung, N. L.; K, S.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chiang, C.; Huang, Y.; Pu, L.; Otani, Y.; Jang, S.H.; Balasankaran, N.; Neo, W. P.; Ling, T.; Ting, J. W.; Yoon, H.; Mueller, J.; Pfefferling, B.; Kallensee, O.; Merbeth, T.; Seet, C.S.; Wong, J.; You, Y. S.; Soss, S.; Chan, T. H.; Siah, S. Y.
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022 IEEE International. :6B.3-1-6B.3-6 Mar, 2022
Academic Journal
Conference
Naik, V. B.; Yamane, K.; Kwon, J.; K, S.; Lim, J. H.; Ali, Z.; Behin-Aein, B.; Chung, N. L.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chiang, C.; Huang, Y.; Pu, L.; Otani, Y.; Dixit, H.; Jang, S. H.; Balasankaran, N.; Tan, F.; Neo, W. P.; Goh, L. C.; Toh, E. H.; Ling, T.; Ting, J. W.; Yoon, H.; Congedo, G.; Mueller, J.; Pfefferling, B.; Kallensee, O.; Vogel, A.; Merbeth, T.; Seet, C. S.; Wong, J.; Bordelon, J.; You, Y. S.; Soss, S.; Chan, T. H.; Quek, E.; Siah, S. Y.
2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
Conference
Lee, T. Y.; Yamane, K.; Kwon, J.; Naik, V. B.; Otani, Y.; Zeng, D.; Lim, J. H.; Sivabalan, K.; Chiang, C.; Huang, Y.; Jang, S. H.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Neo, W. P.; Khua, K.; Thiyagarajah, N.; Ling, T.; Goh, L. C.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Balasankaran, N.; Tan, F.; Wong, J.; Seet, C. S.; Ting, J. W.; Ong, S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Siah, S. Y.
2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020
Conference
Naik, V. B.; Yamane, K.; Lee, T.Y.; Kwon, J.; Chao, R.; Lim, J.H.; Chung, N.L.; Behin-Aein, B.; Hau, L.Y.; Zeng, D.; Otani, Y.; Chiang, C.; Huang, Y.; Pu, L.; Jang, S.H.; Neo, W.P.; Dixit, H.; Goh, S. K L. C.; Toh, E. H.; Ling, T.; Hwang, J.; Ting, J.W.; Low, R.; Zhang, L.; Lee, C.G.; Balasankaran, N.; Tan, F.; Gan, K. W.; Yoon, H.; Congedo, G.; Mueller, J.; Pfefferling, B.; Kallensee, O.; Vogel, A.; Kriegerstein, V.; Merbeth, T.; Seet, C.S.; Ong, S.; Xu, J.; Wong, J.; You, Y.S.; Woo, S.T.; Chan, T.H.; Quek, E.; Siah, S. Y.
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :11.3.1-11.3.4 Dec, 2020
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Naik, V. B.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어