학술논문

	o	ㅋ	ㄱ	ㅅ	ㅈ	ㅌ	ㄷ	촉	ㄴ	ㅎ	ㅂ	ㅃ	ㅁ	야	ㄹ	와
ㅏ	あ a	ぁ	か ka	が ga	さ sa	ざ za	た ta	だ da		な na	は ha	ば ba	ぱ pa	ま ma	や ya	ゃ lya	ら ra	わ wa	ゎ lwa	ん n
l	い i	ぃ	き ki	ぎ gi	し si	じ zi	ち ti	ぢ di		に ni	ひ hi	び bi	ぴ pi	み mi			り ri
ㅜ	う u	ぅ	く ku	ぐ gu	す su	ず zu	つ tu	づ du	っ	ぬ nu	ふ hu	ぶ bu	ぷ pu	む mu	ゆ yu	ゅ lyu	る ru
ㅔ	え e	ぇ	け ke	げ ge	せ se	ぜ ze	て te	で de		ね ne	へ he	べ be	ぺ pe	め me			れ re
ㅗ	お o	ぉ	こ ko	ご go	そ so	ぞ zo	と to	ど do		の no	ほ ho	ぼ bo	ぽ po	も mo	よ yo	ょ lyo	ろ ro	を wo

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ㅏ	ア a	ァ	カ ka	ガ ga	サ sa	ザ za	タ ta	ダ da		ナ na	ハ ha	バ ba	パ pa	マ ma	ヤ ya	ャ lya	ラ ra	ワ wa	ヮ lwa		ン n
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ㅗ	オ o	ォ	コ ko	ゴ go	ソ so	ゾ zo	ト to	ド do		ノ no	ホ ho	ボ bo	ポ po	モ mo	ヨ yo	ョ lyo	ロ ro	ヲ wo		ーー

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발행년	- (예 : 2010-2015)

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Characterization of Integrated Optical Strain Sensors Based on Silicon Waveguides

Academic Journal

Westerveld, W.J.; Urbach, H.P.; Muilwijk, P.M.; Pozo, J.; Van Den Dool, T.C.; Leinders, S.M.; Verweij, M.D.; Yousefi, M.

In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics. (IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 1 July 2014, 20(4))

Web of Science JCR 저널정보 Scopus Find it@PNU

Characterization of EBL2 EUV exposure facility

Conference

Te Sligte, E.; Van Putten, M.; Molkenboer, F.T.; Van Der Walle, P.; Muilwijk, P.M.; Koster, N.B.; Westerhout, J.; Kerkhof, P.J.; Oostdijck, B.W.; Mulckhuyse, W.; Deutz, A.F.

In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2017. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2017, 10450)

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Characterization of optical strain sensors based on silicon waveguides

Conference

Westerveld, W.J.; Leinders, S.M.; Van Dongen, K.W.A.; Urbach, H.P.; Pozo, J.; Muilwijk, P.M.; Harmsma, P.J.; Tabak, E.; Van Den Dool, T.C.; Yousefi, M.

In: 2013 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe and International Quantum Electronics Conference, CLEO/Europe-IQEC 2013, 2013 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe and International Quantum Electronics Conference, CLEO/Europe-IQEC 2013. (2013 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe and International Quantum Electronics Conference, CLEO/Europe-IQEC 2013, 2013)

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Characterization of optical strain sensors based on silicon waveguides

Conference

Westerveld, W.J.; Leinders, S.M.; van Dongen, K.W.A.; Urbach, H.P.; Pozo, J.; Muilwijk, P.M.; Harmsma, P.J.; Tabak, E.; van den Dool, T.C.; Yousefi, M.

In: Optics InfoBase Conference Papers, The European Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO_Europe 2013. (Optics InfoBase Conference Papers, 2013)

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