학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 52건 | 목록
1~10
Conference
Shaw, D.E.; Adams, P.J.; Azaria, A.; Bank, J.A.; Batson, B.; Bell, A.; Bergdorf, M.; Bhatt, J.; Butts, J.A.; Correia, T.; Dirks, R.M.; Dror, R.O.; Eastwood, M.P.; Edwards, B.; Even, A.; Feldmann, P.; Fenn, M.; Fenton, C.H.; Forte, A.; Gagliardo, J.; Gill, G.; Gorlatova, M.; Greskamp, B.; Grossman, J.P.; Gullingsrud, J.; Harper, A.; Hasenplaugh, W.; Heily, M.; Heshmat, B.C.; Hunt, J.; Ierardi, D.J.; Iserovich, L.; Jackson, B.L.; Johnson, N.P.; Kirk, M.M.; Klepeis, J.L.; Kuskin, J.S.; Mackenzie, K.M.; Mader, R.J.; McGowen, R.; McLaughlin, A.; Moraes, M.A.; Nasr, M.H.; Nociolo, L.J.; O'Donnell, L.; Parker, A.; Peticolas, J.L.; Pocina, G.; Predescu, C.; Quan, T.; Salmon, J.K.; Schwink, C.; Shim, K.S.; Siddique, N.; Spengler, J.; Szalay, T.; Tabladillo, R.; Tartler, R.; Taube, A.G.; Theobald, M.; Towles, B.; Vick, W.; Wang, S.C.; Wazlowski, M.; Weingarten, M.J.; Williams, J.M.; Yuh, K.A.
SC21: International Conference for High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis, SC21: International Conference for. :1-11 Nov, 2021
Conference
ICCAD-2005. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2005. Computer Aided Design Computer-Aided Design, 2005. ICCAD-2005. IEEE/ACM International Conference on. :118-121 2005
Conference
Proceedings International Test Conference 1997 Test conference Test Conference, 1997. Proceedings., International. :685-693 1997
Academic Journal
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 41(1):229-237 Jan, 2006
Academic Journal
Penn, M.J.; Baer, R.; Mandrell, C.; Dawson, K.; Cortez, M.; Levsky, A.; Gallaba, D.; Perrone, M.; Walter, D.; Smith, D.; Pierce, M.; Gelderman, R.; Ursache, A.; Garrison, D.; Elmore, D.; Schad, T.; Gosain, S.; Steward, M.; Gosain, V.; Gosain, R.; Mitchell, A.; Kovac, S.; Hare, H.; McKay, M.; Jensen, L.; Watson, Z.; Conley, M.; Hall-Conley, G.; Powers, L.; Gregg, D.; Lazarova, M.; Wright, J.; Young, D.; Kennedy, C.; Dembinski, D.; Isberner, F.; Harper, H.; Hart, C.A.; Sheeley, N.R.; Penn, D.; Allen-Penn, K.; Alder, B.; Alder, R.; Gerdes, D.; Weber, K.; Johnson, J.; Matzek, G.; Somes, S.; Sobnosky, R.; McGowen, R.; Meo, M.; Proctor, D.; Wessinger, C.; Schilling, J.; Kerr, J.; Beltzer-Sweeney, A.; Falatoun, A.; Higgins, D.; Boyce, G.; Hettick, J.; Blanco, P.; Dixon, S.; Ardebilianfard, S.; Boyce, P.; Lighthill, R.; Lighthill, D.; Anderson, D.; Anderson, M.; Smith, S.; Jensen, D.; Allen, A.; Smith, D.; Brandon, G.; Earp, J.; Earp, J.; Blair, B.; Claver, C.F.; Claver, J.A.; Claver, R.H.; Hoops, D.; Rivera, E.; Gibson, L.; Hiner, M.; Lann, R.; Miller, S.; Briggs, B.; Davis, K.; Jackson, B.; Kautzsch, K.; Sandidge, W.; Lucas, R.; Kamenetzky, J.; Rivera, T.; Shaw, J.; Scherrer, B.; Sandbak, D.; McFate, R.; Harris, W.; Brasier, Z.; McNeil, S.; Jensen, J.; Jensen, M.; Moore, M.; Temple, A.; Vanderhorst, T.; Kautz, R.; Bellorado, O.; Jenkins, L.R.; Pantuso, C.; Carey, M.; Byrnes, J.; Scholtens, K.; Web, J.; Baker, B.; Barngrover, K.; Hathaway, D.; Smith, K.; Chandler, K.; Hinkle, L.; Chandler, I.; Gisler, G.; Benner, J.; Mas, M.; Rogers, M.; Moore, P.; Pelofske, E.; Gulley, S.; Short, B.; Crooker, I.; Hammock, J.; Cardenas, K.; Cardenas, K.; Wellman, J.; Roy, M.; Meyer, J.; Brough, J.; Brough, K.; Nelson, T.; Nelson, Z.; Russell, C.; Bautz, T.; Weitzel, E.; Wistisen, M.; Aagard, S.; Whipps, Z.; Neuroth, L.; Poste, D.; Worthen, C.; Jorgensen, J.; Doucette, E.; Doucette, R.; Iwen, E.; Cochran, A.; Stith, J.; Scribner, D.; Kenney, A.; Pisciotti, K.; Pease, I.; Cynamon, S.; Cynamon, C.; Cynamon, D.; Weremeichik, J.; Pindell, N.; Stives, K.; Boeck, W.; Boeck, A.; Ryan, A.; Wierzorec, G.; Klebe, D.; Costanza, B.; Cerny, A.; Schmale, T.; Hoffman, T.; Streeter, S.; Erickson, J.; McClellan, M.; Erickson, E.; Brettell, B.; Shoffner, S.; McClellan, E.; Vanvoorhis, J.; Bramhall, C.; Stelly, D.; Bee, B.; Acevedo, B.; Kroeger, M.; Trumpenski, B.; Sump, N.; Brook, L.; Ernzen, J.; Lewis, J.; Maderak, R.; Wright, R.; Foster, M.; Ahmadbasir, M.; Laycox, M.; Foster, J.; Orr, E.; Staab, A.; Speck, A.; Baldridge, S.; Kegley, L.; Bavlnka, J.; Ballew, T.; Callen, B.; Ojakangas, G.; Bremer, M.; Angliongto, M.; Redecker, M.; Bremer, C.; Hill, P.; Rodgers, M.; Duncan, J.; Fincher, S.; Nielsen, B.; Hasler, S.; Shivelbine, T.; Howard, T.; Midden, C.; Patrick, S.; Glenn, K.; Taylor, J.; Yanamandra-Fisher, P.A.; Adams, L.; Springer, M.; Menard, B.; Boggs, D.; Lynch, C.; Watson, J.; York, A.; Matthews, D.; Brown, K.; Garrison, D.; Mangin, J.; Mangin, I.; Birriel, J.; Birriel, I.; Yess, C.; Anderson, J.; Caudill, E.; Smith, A.; Buckner, S.; Longhurst, R.; Fagan, B.; Nations, C.; Dimatties, J.; Thompson, P.; Garrison, T.; Garrison, W.; Kidd, M.; Baker, M.; Ledford, M.-B.; Winebarger, A.; Freed, M.; Church, M.; Dickens, J.; Anderson, B.; Smith, N.; Dorsey, L.; Justice, D.; Zavala, D.; Stockbridge, Z.; Brittain, S.; Jensen, S.; Leiendecker, H.; Thompson, E.; Deady, M.; Quinn-Hughes, K.; Slimmer, D.; Granger, V.; Laroche, M.; Laroche, S.H.; Manspeaker, R.; Nguyen, P.; Payne, J.; Zissett, J.; Roberts, A.M.; Roberts, G.W.; Roberts, H.; Riddle, A.; Ursache, C.; Ursache, E.; Tolbert, B.; Dupree, J.A.; Simacek, T.K.; Simacek, Y.G.; Simacek, A.L.
In: Publications of the Astronomical Society of the Pacific . (Publications of the Astronomical Society of the Pacific, January 2020, 132(1007))
Conference
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium VLSI Test Symposium, 1994. Proceedings., 12th IEEE. :402-407 1994
Conference
Proceedings of European Design and Test Conference EDAC-ETC-EUROASIC European Design and Test Conference, 1994. EDAC, The European Conference on Design Automation. ETC European Test Conference. EUROASIC, The European Event in ASIC Design, Proceedings.. :371-375 1994
Conference
ISSCC. 2005 IEEE International Digest of Technical Papers. Solid-State Circuits Conference, 2005. Solid-State Circuits Solid-State Circuits Conference, 2005. Digest of Technical Papers. ISSCC. 2005 IEEE International. :304-305 Vol. 1 2005
Academic Journal
In: Historical Journal . (Historical Journal, 1 March 2022, 65(2):530-532)
Conference
Adams, P.J.; Batson, B.; Bell, A.; Bhatt, J.; Butts, J.A.; Correia, T.; Edwards, B.; Feldmann, P.; Fenton, C.H.; Forte, A.; Gagliardo, J.; Gill, G.; Gorlatova, M.; Greskamp, B.; Grossman, J.P.; Hunt, J.; Jackson, B.L.; Kirk, M.M.; Kuskin, J.S.; Mader, R.J.; McGowen, R.; McLaughlin, A.; Moraes, M.A.; Nasr, M.; Nociolo, L.J.; O'Donnell, L.; Parker, A.; Peticolas, J.L.; Quan, T.; Schwink, T.C.; Shim, K.S.; Siddique, N.; Spengler, J.; Theobald, M.; Towles, B.; Vick, W.; Wang, S.C.; Wazlowski, M.; Weingarten, M.J.; Williams, J.M.; E.shaw, D.
In: 2021 IEEE Hot Chips 33 Symposium, HCS 2021 , 2021 IEEE Hot Chips 33 Symposium, HCS 2021. (2021 IEEE Hot Chips 33 Symposium, HCS 2021, 22 August 2021)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] McGowen, R.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어