학술논문
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Academic Journal
Zhang, Zheng; Hsieh, Ming-Chun; Liu, Ran; Yeom, Jeyun; Suetake, Aiji; Yoshida, Hiroshi; Chen, Chuantong; Kang, Joonhaeng; Honma, Hidekazu; Kitahara, Yuhei; Matsunami, Takashi; Otsuka, Kuniaki; Suganuma, Katsuaki
In Microelectronics Reliability November 2022 138
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[AR] Matsunami, Takashi
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