학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 363건 | 목록
1~10
Conference
Huang, H.; McLaughin, P. S.; Kelly, J. J.; Yang, C. -C.; Southwick, R. G.; Wang, M.; Bonilla, G.; Karve, G.
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019 IEEE International. :1-5 Mar, 2019
Report
Tvaskis, V.; Tvaskis, A.; Niculescu, I.; Abbott, D.; Adams, G. S.; Afanasev, A.; Ahmidouch, A.; Angelescu, T.; Arrington, J.; Asaturyan, R.; Avery, S.; Baker, O. K.; Benmouna, N.; Berman, B. L.; Biselli, A.; Blok, H. P.; Boeglin, W. U.; Bosted, P. E.; Brash, E.; Breuer, H.; Chang, G.; Chant, N.; Christy, M. E.; Connell, S. H.; Dalton, M. M.; Danagoulian, S.; Day, D.; Dodario, T.; Dunne, J. A.; Dutta, D.; Khayari, N. El; Ent, R.; Fenker, H. C.; Frolov, V. V.; Gaskell, D.; Garrow, K.; Gilman, R.; Gueye, P.; Hafidi, K.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Horn, T.; Huber, G. M.; Jackson, H.; Jiang, X.; Jones, M. K.; Joo, K.; Kelly, J. J.; Keppel, C. E.; Kuhn, J.; Kinney, E.; Klein, A.; Kubarovsky, V.; Liang, M.; Liang, Y.; Lolos, G.; Lung, A.; Mack, D.; Malace, S.; Markowitz, P.; Mbianda, G.; McGrath, E.; Mckee, D.; McKee, P.; Meekins, D. G.; Mkrtchyan, H.; Moziak, B.; Napolitano, J.; Navasardyan, T.; Niculescu, G.; Nozar, M.; Ostapenko, T.; Papandreou, Z.; Potterveld, D.; Reimer, P. E.; Reinhold, J.; Roche, J.; Rock, S. E.; Schulte, E.; Segbefia, E.; Smith, C.; Smith, G. R.; Stoler, P.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Telfeyan, J.; Todor, L.; Ungaro, M.; Uzzle, A.; Vidakovic, S.; Villano, A.; Vulcan, W. F.; Wang, M.; Warren, G.; Wesselmann, F.; Wojtsekhowski, B.; Wood, S. A.; Xu, C.; Yan, C.; Yuan, L.; Zheng, X.; Zihlmann, B.; Zhu, H.
Phys. Rev. C 97, 045204 (2018)
Academic Journal
Journal of Physical Chemistry C; 1/20/2022, Vol. 126 Issue 2, p1115-1124, 10p
Academic Journal
West, M. A.; Loughney, L.; Ambler, G.; Dimitrov, B. D.; Kelly, J. J.; Mythen, M. G.; Sturgess, R.; Calverley, P. M. A.; Kendrick, A.; Grocott, M. P. W.; Jack, S.
Report
Fonvieille, H.; Laveissiere, G.; Degrande, N.; Jaminion, S.; Jutier, C.; Todor, L.; Di Salvo, R.; Van Hoorebeke, L.; Alexa, L. C.; Anderson, B. D.; Aniol, K. A.; Arundell, K.; Audit, G.; Auerbach, L.; Baker, F. T.; Baylac, M.; Berthot, J.; Bertin, P. Y.; Bertozzi, W.; Bimbot, L.; Boeglin, W. U.; Brash, E. J.; Breton, V.; Breuer, H.; Burtin, E.; Calarco, J. R.; Cardman, L. S.; Cavata, C.; Chang, C. -C.; Chen, J. -P.; Chudakov, E.; Cisbani, E.; Dale, D. S.; deJager, C. W.; De Leo, R.; Deur, A.; d'Hose, N.; Dodge, G. E.; Domingo, J. J.; Elouadrhiri, L.; Epstein, M. B.; Ewell, L. A.; Finn, J. M.; Fissum, K. G.; Fournier, G.; Frois, B.; Frullani, S.; Furget, C.; Gao, H.; Gao, J.; Garibaldi, F.; Gasparian, A.; Gilad, S.; Gilman, R.; Glamazdin, A.; Glashausser, C.; Gomez, J.; Gorbenko, V.; Grenier, P.; Guichon, P. A. M.; Hansen, J. O.; Holmes, R.; Holtrop, M.; Howell, C.; Huber, G. M.; Hyde, C. E.; Incerti, S.; Iodice, M.; Jardillier, J.; Jones, M. K.; Kahl, W.; Kato, S.; Katramatou, A. T.; Kelly, J. J.; Kerhoas, S.; Ketikyan, A.; Khayat, M.; Kino, K.; Kox, S.; Kramer, L. H.; Kumar, K. S.; Kumbartzki, G.; Kuss, M.; Leone, A.; LeRose, J. J.; Liang, M.; Lindgren, R. A.; Liyanage, N.; Lolos, G. J.; Lourie, R. W.; Madey, R.; Maeda, K.; Malov, S.; Manley, D. M.; Marchand, C.; Marchand, D.; Margaziotis, D. J.; Markowitz, P.; Marroncle, J.; Martino, J.; McCormick, K.; McIntyre, J.; Mehrabyan, S.; Merchez, F.; Meziani, Z. E.; Michaels, R.; Miller, G. W.; Mougey, J. Y.; Nanda, S. K.; Neyret, D.; Offermann, E. A. J. M.; Papandreou, Z.; Pasquini, B.; Perdrisat, C. F.; Perrino, R.; Petratos, G. G.; Platchkov, S.; Pomatsalyuk, R.; Prout, D. L.; Punjabi, V. A.; Pussieux, T.; Quemener, G.; Ransome, R. D.; Ravel, O.; Real, J. S.; Renard, F.; Roblin, Y.; Rowntree, D.; Rutledge, G.; Rutt, P. M.; Saha, A.; Saito, T.; Sarty, A. J.; Serdarevic, A.; Smith, T.; Smirnov, G.; Soldi, K.; Sorokin, P.; Souder, P. A.; Suleiman, R.; Templon, J. A.; Terasawa, T.; Tieulent, R.; Tomasi-Gustaffson, E.; Tsubota, H.; Ueno, H.; Ulmer, P. E.; Urciuoli, G. M.; Vanderhaeghen, M.; Van der Meer, R. L. J.; Van De Vyver, R.; Vernin, P.; Vlahovic, B.; Voskanyan, H.; Voutier, E.; Watson, J. W.; Weinstein, L. B.; Wijesooriya, K.; Wilson, R.; Wojtsekhowski, B. B.; Zainea, D. G.; Zhang, W. -M.; Zhao, J.; Zhou, Z. -L.
Conference
2008 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, 2008. ASMC 2008. IEEE/SEMI. :56-60 May, 2008
Report
Asaturyan, R.; Ent, R.; Mkrtchyan, H.; Navasardyan, T.; Tadevosyan, V.; Adams, G. S.; Ahmidouch, A.; Angelescu, T.; Arrington, J.; Asaturyan, A.; Baker, O. K.; Benmouna, N.; Bertoncini, C.; Blok, H. P.; Boeglin, W. U.; Bosted, P. E.; Breuer, H.; Christy, M. E.; Connell, S. H.; Cui, Y.; Dalton, M. M.; Danagoulian, S.; Day, D.; Dunne, J. A.; Dutta, D.; Khayari, N. El; Fenker, H. C.; Frolov, V. V.; Gan, L.; Gaskell, D.; Hafidi, K.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Horn, T.; Huber, G. M.; Hungerford, E.; Jiang, X.; Jones, M.; Joo, K.; Kalantarians, N.; Kelly, J. J.; Keppel, C. E.; Kubarovsky, V.; Li, Y.; Liang, Y.; Mack, D.; Malace, S. P.; Markowitz, P.; McGrath, E.; McKee, P.; Meekins, D. G.; Mkrtchyan, A.; Moziak, B.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; Opper, A. K.; Ostapenko, T.; Reimer, P. E.; Reinhold, J.; Roche, J.; Rock, S. E.; Schulte, E.; Segbefia, E.; Smith, C.; Smith, G. R.; Stoler, P.; Tang, L.; Ungaro, M.; Uzzle, A.; Vidakovic, S.; Villano, A.; Vulcan, W. F.; Wang, M.; Warren, G.; Wesselmann, F. R.; Wojtsekhowski, B.; Wood, S. A.; Xu, C.; Yuan, L.; Zheng, X.
Report
Riordan, S.; Abrahamyan, S.; Craver, B.; Kelleher, A.; Kolarkar, A.; Miller, J.; Cates, G. D.; Liyanage, N.; Wojtsekhowski, B.; Acha, A.; Allada, K.; Anderson, B.; Aniol, K. A.; Annand, J. R. M.; Arrington, J.; Averett, T.; Beck, A.; Bellis, M.; Boeglin, W.; Breuer, H.; Calarco, J. R.; Camsonne, A.; Chen, J. P.; Chudakov, E.; Coman, L.; Crowe, B.; Cusanno, F.; Day, D.; Degtyarenko, P.; Dolph, P. A. M.; Dutta, C.; Ferdi, C.; Fernandez-Ramirez, C.; Feuerbach, R.; Fraile, L. M.; Franklin, G.; Frullani, S.; Fuchs, S.; Garibaldi, F.; Gevorgyan, N.; Gilman, R.; Glamazdin, A.; Gomez, J.; Grimm, K.; Hansen, J. O.; Herraiz, J. L.; Higinbotham, D. W.; Holmes, R.; Holmstrom, T.; Howell, D.; deJager, C. W.; Jiang, X.; Jones, M. K.; Katich, J.; Kaufman, L. J.; Khandaker, M.; Kelly, J. J.; Kiselev, D.; Korsch, W.; LeRose, J.; Lindgren, R.; Markowitz, P.; Margaziotis, D. J.; Beck, S. May-Tal; Mayilyan, S.; McCormick, K.; Meziani, Z. E.; Michaels, R.; Moffit, B.; Nanda, S.; Nelyubin, V.; Ngo, T.; Nikolenko, D. M.; Norum, B.; Pentchev, L.; Perdrisat, C. F.; Piasetzky, E.; Pomatsalyuk, R.; Protopopescu, D.; Puckett, A. J. R.; Punjabi, V. A.; Qian, X.; Qiang, Y.; Quinn, B.; Rachek, I.; Ransome, R. D.; Reimer, P. E.; Reitz, B.; Roche, J.; Ron, G.; Rondon, O.; Rosner, G.; Saha, A.; Sargsian, M.; Sawatzky, B.; Segal, J.; Shabestari, M.; Shahinyan, A.; Shestakov, Yu.; Singh, J.; Sirca, S.; Souder, P.; Stepanyan, S.; Stibunov, V.; Sulkosky, V.; Tajima, S.; Tobias, W. A.; Udias, J. M.; Urciuoli, G. M.; Vlahovic, B.; Voskanyan, H.; Wang, K.; Wesselmann, F. R.; Vignote, J. R.; Wood, S. A.; Wright, J.; Yao, H.; Zhu, X.
Phys.Rev.Lett.105:262302,2010
Report
Dalton, M. M.; Adams, G. S.; Ahmidouch, A.; Angelescu, T.; Arrington, J.; Asaturyan, R.; Baker, O. K.; Benmouna, N.; Bertoncini, C.; Boeglin, W. U.; Bosted, P. E.; Breuer, H.; Christy, M. E.; Connell, S. H.; Cui, Y.; Danagoulian, S.; Day, D.; Dodario, T.; Dunne, J. A.; Dutta, D.; Khayari, N. El; Ent, R.; Fenker, H. C.; Frolov, V. V.; Gan, L.; Gaskell, D.; Hafidi, K.; Hinton, W.; Holt, R. J.; Horn, T.; Huber, G. M.; Hungerford, E.; Jiang, X.; Jones, M. K.; Joo, K.; Kalantarians, N.; Kelly, J. J.; Keppel, C. E.; Kubarovsky, V.; Li, Y.; Liang, Y.; Malace, S.; Markowitz, P.; McKee, P.; Meekins, D. G.; Mkrtchyan, H.; Moziak, B.; Navasardyan, T.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; Opper, A. K.; Ostapenko, T.; Reimer, P. E.; Reinhold, J.; Roche, J.; Rock, S. E.; Schulte, E.; Segbefia, E.; Smith, C.; Smith, G. R.; Stoler, P.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Tvaskis, V.; Ungaro, M.; Uzzle, A.; Vidakovic, S.; Villano, A.; Vulcan, W. F.; Wang, M.; Warren, G.; Wesselmann, F. R.; Wojtsekhowski, B.; Wood, S. A.; Xu, C.; Yuan, L.; Zheng, X.; Zhu, H.
Phys.Rev.C80:015205,2009
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Kelly, J. J.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어