학술논문
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Conference
Lin, T.; Chen, C.; Hsu, S.Y.; Tsai, M.J.; Yew, T.R.; Chou, J.W.; Haung, K.T.; Wu, J.Y.; Ku, Y.C.; Liu, C.C.; Yang, M.S.; Yeh, W.K.; Huang, C.H.; Lur, W.; Huang, H.S.; Sun, S.W.
International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest Electron Devices Electron Devices Meeting, 1997. IEDM '97. Technical Digest., International. :851-854 1997
Conference
Lin, T.; Chen, C.; Hsu, S.Y.; Tsai, M.J.; Yew, T.R.; Chou, J.W.; Haung, K.T.; Wu, J.Y.; Ku, Y.C.; Liu, C.C.; Yang, M.S.; Yeh, W.K.; Huang, C.H.; Lur, W.; Huang, H.S.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM . (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 1997, :851-854)
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[AR] Haung, K.T.
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