학술논문

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-
(예 : 2010-2015)
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Conference
2014 IEEE 23rd North Atlantic Test Workshop Test Workshop (NATW), 2014 IEEE 23rd North Atlantic. :22-31 May, 2014
Academic Journal
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE; SEP 2012, 12 3, p293-p296, 4p.
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[AR] Han, Dongkwan
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