학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 23건 | 목록
1~10
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , DTCO and Computational Patterning III. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2024, 12954)
Academic Journal
In: Journal of Vacuum Science and Technology B . (Journal of Vacuum Science and Technology B, 1 September 2022, 40(5))
Report
GRAVITY Collaboration; Abuter, R.; Accardo, M.; Amorim, A.; Anugu, N.; Ávila, G.; Azouaoui, N.; Benisty, M.; Berger, J. P.; Blind, N.; Bonnet, H.; Bourget, P.; Brandner, W.; Brast, R.; Buron, A.; Burtscher, L.; Cassaing, F.; Chapron, F.; Choquet, É.; Clénet, Y.; Collin, C.; Foresto, V. Coudé du; de Wit, W.; de Zeeuw, P. T.; Deen, C.; Delplancke-Ströbele, F.; Dembet, R.; Derie, F.; Dexter, J.; Duvert, G.; Ebert, M.; Eckart, A.; Eisenhauer, F.; Esselborn, M.; Fédou, P.; Finger, G.; Garcia, P.; Dabo, C. E. Garcia; Lopez, R. Garcia; Gendron, E.; Genzel, R.; Gillessen, S.; Gonte, F.; Gordo, P.; Grould, M.; Grözinger, U.; Guieu, S.; Haguenauer, P.; Hans, O.; Haubois, X.; Haug, M.; Haussmann, F.; Henning, Th.; Hippler, S.; Horrobin, M.; Huber, A.; Hubert, Z.; Hubin, N.; Hummel, C. A.; Jakob, G.; Janssen, A.; Jochum, L.; Jocou, L.; Kaufer, A.; Kellner, S.; Kern, L.; Kervella, P.; Kiekebusch, M.; Klein, R.; Kok, Y.; Kolb, J.; Kulas, M.; Lacour, S.; Lapeyrère, V.; Lazareff, B.; Bouquin, J. -B. Le; Lèna, P.; Lenzen, R.; Lévêque, S.; Lippa, M.; Magnard, Y.; Mehrgan, L.; Mellein, M.; Mérand, A.; Moreno-Ventas, J.; Moulin, T.; Müller, E.; Müller, F.; Neumann, U.; Oberti, S.; Ott, T.; Pallanca, L.; Panduro, J.; Pasquini, L.; Paumard, T.; Percheron, I.; Perraut, K.; Perrin, G.; Pflüger, A.; Pfuhl, O.; Duc, T. Phan; Plewa, P. M.; Popovic, D.; Rabien, S.; Ramírez, A.; Ramos, J.; Rau, C.; Riquelme, M.; Rohloff, R. -R.; Rousset, G.; Sanchez-Bermudez, J.; Scheithauer, S.; Schöller, M.; Schuhler, N.; Spyromilio, J.; Straubmeier, C.; Sturm, E.; Suarez, M.; Tristram, K. R. W.; Ventura, N.; Vincent, F.; Waisberg, I.; Wank, I.; Weber, J.; Wieprecht, E.; Wiest, M.; Wiezorrek, E.; Wittkowski, M.; Woillez, J.; Wolff, B.; Yazici, S.; Ziegler, D.; Zins, G.
A&A 602, A94 (2017)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2023, 12496)
Periodical
Bannister, Julie; Mohanty, Nihar; Darbon, B.; Grould, M.; Clément, N.; Baderot, J.; Martinez, S.; Foucher, J.
Proceedings of SPIE; March 2021, Vol. 11615 Issue: 1 p116150K-116150K-6, 1045357p
Academic Journal
Buron, A.; Burtscher, L.; Deen, C.; Dexter, J.; Eisenhauer, F.; Genzel, R.; Gillessen, S.; Hans, O.; Haug, M.; Haussmann, F.; Janssen, A.; Kellner, S.; Kok, Y.; Lippa, M.; Ott, T.; Pflüger, A.; Pfuhl, O.; Plewa, P.M.; Rabien, S.; Rau, C.; Sturm, E.; Waisberg, I.; Weber, J.; Wieprecht, E.; Wiezorrek, E.; Yazici, S.; Azouaoui, N.; Chapron, F.; Choquet, E.; Clénet, Y.; Collin, C.; Coudé Du Foresto, V.; Dembet, R.; Fédou, P.; Gendron, E.; Grould, M.; Hubert, Z.; Kervella, P.; Lacour, S.; Lapeyrère, V.; Lèna, P.; Paumard, T.; Perrin, G.; Rousset, G.; Vincent, F.; Ziegler, D.; Brandner, W.; Ebert, M.; Garcia Lopez, R.; Grözinger, U.; Henning, T.; Hippler, S.; Huber, A.; Kendrew, S.; Klein, R.; Kulas, M.; Lenzen, R.; Mellein, M.; Moreno-Ventas, J.; Müller, E.; Müller, F.; Neumann, U.; Panduro, J.; Ramos, J.; Rohloff, R.-R.; Sanchez-Bermudez, J.; Scheithauer, S.; Eckart, A.; Horrobin, M.; Straubmeier, C.; Wank, I.; Wiest, M.; Benisty, M.; Berger, J.P.; Duvert, G.; Guieu, S.; Jocou, L.; Lazareff, B.; Le Bouquin, J.-B.; Magnard, Y.; Moulin, T.; Perraut, K.; Ventura, N.; Amorim, A.; Gordo, P.; Anugu, N.; Garcia, P.; Abuter, R.; Accardo, M.; Ávila, G.; Bonnet, H.; Brast, R.; De Zeeuw, P.T.; Delplancke-Ströbele, F.; Derie, F.; Esselborn, M.; Finger, G.; Garcia Dabo, C.E.; Gonte, F.; Haguenauer, P.; Hubin, N.; Hummel, C.A.; Jakob, G.; Jochum, L.; Kern, L.; Kiekebusch, M.; Lévêque, S.; Mehrgan, L.; Mérand, A.; Oberti, S.; Pasquini, L.; Percheron, I.; Phan Duc, T.; Popovic, D.; Schöller, M.; Spyromilio, J.; Suarez, M.; Wittkowski, M.; Woillez, J.; Wolff, B.; Bourget, P.; De Wit, W.; Haubois, X.; Kaufer, A.; Kolb, J.; Pallanca, L.; Ramírez, A.; Riquelme, M.; Schuhler, N.; Tristram, K.R.W.; Zins, G.; Blind, N.; Cassaing, F.
In: Astronomy and Astrophysics . (Astronomy and Astrophysics, 1 June 2017, 602)
Academic Journal
In: Astronomy and Astrophysics . (Astronomy and Astrophysics, 2016, 591)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Advanced Etch Technology and Process Integration for Nanopatterning X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2021, 11615)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Grould, M.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어