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2009 18th IEEE International Workshops on Enabling Technologies: Infrastructures for Collaborative Enterprises; 2009, p39-44, 6p

Aamodt, K.; Arsene, I.; Bravina, L.; Hille, P.; Kvaerno, H.; Loøvhoøiden, G.; Milosevic, J.; Nyiri, A.; Skaali, B.; Tveter, T.; Tywoniuk, K.; Wikne, J.; Zabrodin, E.; Quintana, A.A.; Torres, E.L.; Rubio, A.; Achenbach, R.; Alt, T.; Angelov, V.; Böttger, S.; De Cuveland, J.; Dorn, M.; Gorbunov, S.; Gottschalk, D.; Hoebbel, H.; Kalcher, S.; Kebschull, U.; Kisel, I.; Kiworra, V.; Lara, C.; Lindenstruth, V.; Panse, R.; Popescu, S.; Reichling, C.; Schneider, R.; Sesselmann, T.; Steinbeck, T.; Thäder, J.; Troger, G.; Weis, R.; Acounis, S.; Aphecetche, L.; Barbet, J.M.; Batigne, G.; Beney, J.L.; Benhabib, L.; Berny, R.; Bortoli, Y.; Bourdaud, G.; Bouvier, S.; Carduner, H.; Charrier, D.; Del Valle, Z.C.; Cussonneau, J.; Delagrange, H.; Dialinas, M.; Finck, C.; Fresneau, S.; Gadrat, S.; Germain, M.; Guilloux, G.; Kapitan, J.; Le Bris, N.; Lefévre, F.; Luquin, L.; Garcia, G.M.; Pichot, P.; Pillot, P.; Renard, C.; Rigalleau, L.M.; Roy, C.; Roy, D.; Schutz, Y.; Stutzmann, J.S.; Tournaire, 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D.; Lyapin, V.; Malkiewicz, T.; Oinonen, M.; Rak, J.; Ruuskanen, V.; Seppänen, H.; Trzaska, W.; Badalà, A.; Fichera, F.; Librizzi, F.; Palmeri, A.; Pappalardo, G.S.; Badyal, S.K.; Bala, R.; Gupta, A.; Gupta, V.; Mahajan, A.; Majahan, S.; Mangotra, L.K.; Potukuchi, B.; Sambyal, S.; Sharma, S.; Baldit, A.; Barret, V.; Bastid, N.; Blanchard, G.; Castor, J.; Crochet, P.; Devaux, A.; Dupieux, P.; Force, P.; Grigoryan, S.; Guerin, F.; Guernane, R.; Guichard, A.; Insa, C.; Jouve, F.; Lecoq, J.; Manso, F.; Rosnet, P.; Royer, L.; Saturnini, P.; Bán, J.; Králik, I.; Kravčáková, A.; Pastirčák, B.; Šándor, L.; Urban, J.; Vrláková, J.; Barbera, R.; Blanco, F.; La Rocca, P.; Noto, F.; Pulvirenti, A.; Riggi, F.; Vernet, R.; Barnäfoldi, G.; Boldizsár, L.; Dénes, E.; Fodor, Z.; Hamar, G.; Kiss, T.; Lévai, P.; Molnar, L.; Pálla, G.; Rubin, G.; Tolyhy, T.; Bartke, J.; Kornas, E.; Kowalski, M.; Rybicki, A.; Basmanov, V.; Budnikov, D.; Demanov, V.; Filchagin, S.; Ilkaev, R.; Mamonov, A.; Nazarenko, 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V.; Polyakov, V.; Rostchin, V.; Samsonov, V.; Zalite, A.; Zhalov, M.; Bernard, C.; Bourrion, O.; Furget, C.; Kox, S.; Muraz, J.F.; Real, J.; Bhasin, A.; Bombara, M.; Daniel, L.; Evans, D.; Jones, G.T.; Jovanović, P.; Jusko, A.; Kinson, J.B.; Kour, R.; Krivda, M.; Lazzeroni, C.; Lietava, R.; Matthews, Z.L.; Navin, S.; Platt, R.; Snow, H.; Takaki, D.T.; Baillie, O.V.; Bianchi, N.; Capitani, G.P.; Diaz., A.C.; Balbastre, G.C.; Del Franco, M.; Di Nezza, P.; Fantoni, A.; Hadjidakis, C.; Hasch, D.; Muccifora, V.; Reolon, A.R.; Ronchetti, F.; Bielčik, J.; Bielčiková, J.; Caines, H.; Harris, J.W.; Heinz, M.; Lamont, M.; Putschke, J.; Salur, S.; Smirnov, N.; Witt, R.; Bimbot, L.; Chambert, V.; Charpy, A.; Comets, M.; Drouet, S.; Espagnon, B.; Hřivnáčová, I.; Lafage, V.; Le Bornec, Y.; Le Gailliard, C.; Malek, M.; Peyré, J.; Pouthas, J.; Rindel, E.; Rousseau, S.; Suire, C.; Willis, N.; Ky, B.Y.; Blanco, F.; Cardenas-Montes, M.; Casado, J.; Hurtado, A.; De Guevara, P.L.; Griffo, J.P.; Blyth, S.; Gray, H.; Horner, M.; Jacobs, P.; Odyniec, G.; Rasson, J.; Symons, J.; Van Leeuwen, M.; Bogdanov, A.; Grigoriev, V.; Kaplin, V.; Loginov, V.; Bogolyubsky, M.; Kharlov, Y.; Onuchin, V.; Petrov, V.; Polichtchouk, B.; Sadovsky, S.; Soloviev, A.; Stolpovsky, P.; Victorov, V.; Bonvicini, V.; Borysov, O.; Bosisio, L.; Bregant, M.; Camerini, P.; Cattaruzza, E.; Contin, G.; Margagliotti, G.V.; Rossi, A.; Rui, R.; Venaruzzo, M.; Borshchov, V.; Chykalov, O.A.; Kiprich, S.K.; Listratenko, O.M.; Protsenko, M.A.; Bose, S.; Chattopadhyay, S.; Das, I.; Majumdar, A.D.; Pal, S.; Roy, P.; Sinha, T.; Botje, M.; Bushop, J.; Jasper, M.; Kluit, R.; Kraus, I.; Kuijer, P.; Schippers, J.D.; Snellings, R.; Timmer, P.; Van Der Kolk, N.; Bruno, G.E.; Dell'Olio, C.; Dell'Olio, D.; D'Erasmo, G.; Di Bari, D.; Di Giglio, C.; Fiore, E.M.; Ghidini, B.; Mastroserio, A.; Minafra, F.; Navach, F.; Pastore, C.; Perrino, D.; Posa, F.; Romita, R.; Santoro, R.; Cai, X.; Ding, H.; Mao, Y.; Wan, R.; Wang, Y.; Xu, C.; Yang, C.; Yin, Z.; Zhou, D.; Cao, X.; Li, Q.; Liu, Y.; Su, G.; Tan, L.; Zhu, G.; Cariola, P.; Caselle, M.; De Cataldo, G.; Elia, D.; Fini, R.; Franco, A.; Franco, M.; Torreira, A.G.; Lenti, V.; Manzari, V.; Nappi, E.; Nicassio, M.; Nitti, M.; Pantaleo, A.; Paticchio, V.; Rizzi, V.; Shileev, K.; Vasta, P.; Volpe, G.; Černý, V.; Fekete, V.; Janik, R.; Pikna, M.; Siska, M.; Sitár, B.; Strmeň, P.; Szarka, I.; Chartoire, M.; Cheynis, B.; Combaret, C.; Ducroux, L.; Grossiord, J.-Y.; Ianigro, J.C.; Nendaz, F.; Tieulent, R.; Tromeur, W.; Vanzetto, S.; Zoccarato, Y.; Choi, J.; Christiansen, P.; Dobrin, A.; Gros, P.; Gustafsson, H.-A.; Oskarsson, A.; Österman, L.; Otterlund, I.; Stenlund, E.; Cleymans, J.; De Vaux, D.; Fearick, R.; Szostak, A.; Vilakazi, Z.; Contreras, J.; Gago, A.; Corral, G.H.; Zetina, L.M.; Perez, C.; Zepeda, A.; Cortese, P.; Dellacasa, G.; Gemme, R.; Ramello, L.; Sitta, M.; Cuautle, E.; Diaz, L.; Domínguez, I.; Nellen, L.; Ortiz-Velázquez, A.; Paić, G.; Podesta, P.; Dainese, 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In: Journal of Instrumentation. (Journal of Instrumentation, 2008, 3(8))