학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 355건 | 목록
1~20
Academic Journal
Agarwal, S. ; Aguilar, J.A. ; Ali, S. ; Allison, P. ; Betts, M. ; Besson, D. ; Bishop, A. ; Botner, O. ; Bouma, S. ; Buitink, S. ; Cataldo, M. ; Clark, B.A. ; Coleman, A. ; Couberly, K. ; de Kockere, S. ; de Vries, K.D. ; Deaconu, C. ; DuVernois, M.A. ; Glaser, C. ; Glüsenkamp, T. ; Hallgren, A. ; Hallmann, S. ; Hanson, J.C. ; Hendricks, B. ; Henrichs, J. ; Heyer, N. ; Hornhuber, C. ; Hughes, K. ; Karg, T. ; Karle, A. ; Kelley, J.L. ; Korntheuer, M. ; Kowalski, M. ; Kravchenko, I. ; Krebs, R. ; Lahmann, R. ; Latif, U. ; Laub, P. ; Liu, C.-H. ; Marsee, M.J. ; Meyers, Z.S. ; Mikhailova, M. ; Monstein, C. ; Mulrey, K. ; Muzio, M. ; Nelles, A. ; Novikov, A. ; Nozdrina, A. ; Oberla, E. ; Oeyen, B. ; Punsuebsay, N. ; Pyras, L. ; Ravn, M. ; Ryckbosch, D. ; Schlüter, F. ; Scholten, O. ; Seckel, D. ; Seikh, M.F.H. ; Stoffels, J. ; Terveer, K. ; Toscano, S. ; Tosi, D. ; Van Den Broeck, D.J. ; van Eijndhoven, N. ; Vieregg, A.G. ; Vijai, A. ; Welling, C. ; Williams, D.R. ; Windischhofer, P. ; Wissel, S. ; Young, R. ; Zink, A.
In Astroparticle Physics January 2025 164
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gui, H.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Kullgren, D.; Lahmann, R.; Liu, C. -H.; Liu, Y.; Marsee, M. J.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Selcuk, Z. S.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Washington, D.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Report
ARA Collaboration; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Chen, Y. -C.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Giri, P.; Hanson, J.; Harty, N.; Hoffman, K. D.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Latif, U. A.; Liu, C. H.; Liu, T. C.; Luszczak, W.; Machtay, A.; Mase, K.; Muzio, M. S.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pai, C. W.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Salcedo-Gomez, A.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shiao, Y. -S.; Stethem, J.; Su, S. C.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A.; Fostier, M. Vilarino; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Windischhofer, P.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
Academic Journal
Aguilar, J.A. ; Anker, A. ; Allison, P. ; Archambault, S. ; Baldi, P. ; Barwick, S.W. ; Beatty, J.J. ; Beise, J. ; Besson, D. ; Bishop, A. ; Bondarev, E. ; Botner, O. ; Bouma, S. ; Buitink, S. ; Cataldo, M. ; Chen, C.C. ; Chen, C.H. ; Chen, P. ; Chen, Y.C. ; Choi, T. ; Clark, B.A. ; Clay, W. ; Curtis-Ginsberg, Z. ; Connolly, A. ; Cremonesi, L. ; Dasgupta, P. ; Davies, J. ; de Kockere, S. ; de Vries, K.D. ; Deaconu, C. ; DuVernois, M.A. ; Flaherty, J. ; Friedman, E. ; Gaior, R. ; Gaswint, G. ; Glaser, C. ; Hallgren, A. ; Hallmann, S. ; Ham, Y.-B. ; Hanson, J.C. ; Harty, N. ; Hendricks, B. ; Hoffman, K.D. ; Hong, E. ; Hornhuber, C. ; Hsu, S.Y. ; Hu, L. ; Huang, J.J. ; Huang, M.-H. ; Hughes, K. ; Ishihara, A. ; Jee, G. ; Jung, J. ; Karle, A. ; Kelley, J.L. ; Klein, S.R. ; Kleinfelder, S.A. ; Kim, J. ; Kim, K.-C. ; Kim, M.-C. ; Kravchenko, I. ; Krebs, R. ; Ku, Y. ; Kuo, C.Y. ; Kurusu, K. ; Kwon, Hyuck-Jin ; Lahmann, R. ; Landsman, H. ; Latif, U. ; Lee, C. ; Leung, C.-H. ; Li, C.-J. ; Liu, J. ; Liu, T.-C. ; Lu, M.-Y. ; Madison, K. ; Mammo, J. ; Mase, K. ; McAleer, S. ; Meures, T. ; Meyers, Z.S. ; Michaels, K. ; Mikhailova, M. ; Mulrey, K. ; Nam, J. ; Nichol, R.J. ; Nir, G. ; Nelles, A. ; Novikov, A. ; Nozdrina, A. ; Oberla, E. ; Oeyen, B. ; Osborn, J. ; Pan, Y. ; Pandya, H. ; Paul, M.P. ; Persichilli, C. ; Pfendner, C. ; Plaisier, I. ; Punsuebsay, N. ; Pyras, L. ; Rice-Smith, R. ; Roth, J. ; Ryckbosch, D. ; Scholten, O. ; Seckel, D. ; Seikh, M.F.H. ; Shiao, Y.-S. ; Shin, B.-K. ; Shultz, A. ; Smith, D. ; Southall, D. ; Tatar, J. ; Torres, J. ; Toscano, S. ; Tosi, D. ; Touart, J. ; Van Den Broeck, D.J. ; van Eijndhoven, N. ; Varner, G.S. ; Vieregg, A.G. ; Wang, M.-Z. ; Wang, S.-H. ; Wang, Y.H. ; Welling, C. ; Williams, D.R. ; Wissel, S. ; Xie, C. ; Yoshida, S. ; Young, R. ; Zhao, L. ; Zink, A.
In Astroparticle Physics March 2023 145
Report
Abbasi, R.; Ackermann, M.; Adams, J.; Agarwalla, S. K.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Alameddine, J. M.; Ali, S.; Amin, N. M.; Andeen, K.; Anton, G.; Argüelles, C.; Ashida, Y.; Athanasiadou, S.; Audehm, J.; Axani, S. N.; Babu, R.; Bai, X.; V., A. Balagopal; Baricevic, M.; Barwick, S. W.; Basu, V.; Bay, R.; Tjus, J. Becker; Behrens, P.; Beise, J.; Bellenghi, C.; Benkel, B.; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Blaufuss, E.; Bloom, L.; Blot, S.; Bohmer, M.; Bontempo, F.; Motzkin, J. Y. Book; Borowka, J.; Meneguolo, C. Boscolo; Böser, S.; Botner, O.; Böttcher, J.; Bouma, S.; Braun, J.; Brinson, B.; Brisson-Tsavoussis, Z.; Burley, R. T.; Bustamante, M.; Butterfield, D.; Campana, M. A.; Carloni, K.; Cataldo, M.; Chattopadhyay, S.; Chau, N.; Chen, Z.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, B. A.; Clark, R.; Coleman, A.; Coleman, P.; Collin, G. H.; Borja, D. A. Coloma; Conrad, J. M.; Corley, R.; Cowen, D. F.; Deaconu, C.; De Clercq, C.; De Kockere, S.; DeLaunay, J. J.; Delgado, D.; Delmeulle, T.; Deng, S.; Desai, A.; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; Díaz-Vélez, J. C.; DiKerby, S.; Dittmer, M.; Do, G.; Domi, A.; Draper, L.; Dueser, L.; Dujmovic, H.; Durnford, D.; Dutta, K.; DuVernois, M. A.; Egby, T.; Ehrhardt, T.; Eidenschink, L.; Eimer, A.; Eller, P.; Ellinger, E.; Elsässer, D.; Engel, R.; Erpenbeck, H.; Esmail, W.; Eulig, S.; Evans, J.; Evans, J. J.; Evenson, P. A.; Fan, K. L.; Fang, K.; Farrag, K.; Fazely, A. R.; Fedynitch, A.; Feigl, N.; Finley, C.; Fischer, L.; Flaggs, B.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Fujii, T.; Fukami, S.; Fürst, P.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garcia, A.; Garg, G.; Genton, E.; Gerhardt, L.; Ghadimi, A.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Goswami, S.; Granados, A.; Grant, D.; Gray, S. J.; Griffin, S.; Griswold, S.; Guevel, D.; Günther, C.; Gutjahr, P.; Ha, C.; Haack, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Halve, L.; Halzen, F.; Hamacher, L.; Minh, M. Ha; Handt, M.; Hanson, K.; Hardin, J.; Harnisch, A. A.; Hatch, P.; Haungs, A.; Häußler, J.; Heinen, D.; Helbing, K.; Hellrung, J.; Hendricks, B.; Henke, B.; Hennig, L.; Henningsen, F.; Henrichs, J.; Heuermann, L.; Heyer, N.; Hickford, S.; Hidvegi, A.; Hill, C.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Hoffmann, B.; Hooper, D.; Hori, S.; Hoshina, K.; Hostert, M.; Hou, W.; Huber, T.; Huege, T.; Santiago, E. Huesca; Hultqvist, K.; Hussain, R.; Hymon, K.; Ishihara, A.; Ishii, T.; Iwakiri, W.; Jacquart, M.; Jain, S.; Jaitly, A.; Janik, O.; Jansson, M.; Jeong, M.; Jin, M.; Kalekin, O.; Kamp, N.; Kang, D.; Kang, W.; Kang, X.; Kappes, A.; Kardum, L.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katil, A.; Katori, T.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Khanal, M.; Zathul, A. Khatee; Kheirandish, A.; Kiryluk, J.; Kleifges, M.; Klein, C.; Klein, S. R.; Kobayashi, T.; Kobayashi, Y.; Kochocki, A.; Kolanoski, H.; Kontrimas, T.; Köpke, L.; Kopper, C.; Koskinen, D. J.; Koundal, P.; Kowalski, M.; Kozynets, T.; Kravchenko, I.; Krieger, N.; Krishnamoorthi, J.; Krishnan, T.; Krupczak, E.; Kumar, A.; Kun, E.; Kurahashi, N.; Lad, N.; Arnaud, L. Lallement; Larson, M. J.; Lauber, F.; DeHolton, K. Leonard; Leszczyńska, A.; Liao, J.; Liu, M.; Liubarska, M.; Lohan, M.; LoSecco, J.; Love, C.; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lyu, Y.; Madsen, J.; Magnus, E.; Mahn, K. B. M.; Makino, Y.; Manao, E.; Mancina, S.; Mandalia, S.; Sainte, W. Marie; Mariş, I. C.; Marka, S.; Marka, Z.; Marsee, M.; Marten, L.; Martinez-Soler, I.; Maruyama, R.; Mayhew, F.; McNally, F.; Mead, J. V.; Meagher, K.; Mechbal, S.; Medina, A.; Meier, M.; Merckx, Y.; Merten, L.; Meyers, Z.; Mikhailova, M.; Millsop, A.; Mitchell, J.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morii, Y.; Morse, R.; Mosbrugger, A.; Moulai, M.; Mousadi, D.; Mukherjee, T.; Muzio, M.; Naab, R.; Nakos, M.; Narayan, A.; Naumann, U.; Necker, J.; Nelles, A.; Neste, L.; Neumann, M.; Niederhausen, H.; Nisa, M. U.; Noda, K.; Noell, A.; Novikov, A.; Oberla, E.; Pollmann, A. Obertacke; O'Dell, V.; Olivas, A.; Orsoe, R.; Osborn, J.; O'Sullivan, E.; Palusova, V.; Papp, L.; Parenti, A.; Park, N.; Paudel, E. N.; Paul, L.; Heros, C. Pérez de los; Pernice, T.; Petersen, T. C.; Peterson, J.; Pizzuto, A.; Plum, M.; Pontén, A.; Popovych, Y.; Rodriguez, M. Prado; Pries, B.; Procter-Murphy, R.; Przybylski, G. T.; Pyras, L.; Rack-Helleis, J.; Rad, N.; Rameez, M.; Ravn, M.; Rawlins, K.; Rechav, Z.; Rehman, A.; Resconi, E.; Reusch, S.; Rho, C. D.; Rhode, W.; Riedel, B.; Riegel, M.; Rifaie, A.; Roberts, E. J.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ruohan, L.; Ryckbosch, D.; Safa, I.; Saffer, J.; Salazar-Gallegos, D.; Sampathkumar, P.; Sandrock, A.; Sandstrom, P.; Sanger-Johnson, G.; Santander, M.; Sarkar, S.; Savelberg, J.; Savina, P.; Schaile, P.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schindler, S.; Schlickmann, L.; Schlüter, B.; Schlüter, F.; Schmeisser, N.; Schmidt, T.; Schröder, F. G.; Schumacher, L.; Schwirn, S.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seen, L.; Seikh, M.; Selcuk, Z.; Seunarine, S.; Shaevitz, M. H.; Shah, R.; Shefali, S.; Shimizu, N.; Silva, M.; Skrzypek, B.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Søgaard, A.; Soldin, D.; Soldin, P.; Sommani, G.; Spannfellner, C.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stoffels, J.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G. W.; Taboada, I.; Taketa, A.; Tamang, T.; Tanaka, H. K. M.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Thiesmeyer, M.; Thompson, W. G.; Thwaites, J.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Torres, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tsunesada, Y.; Twagirayezu, J. P.; Upadhyay, A. K.; Upshaw, K.; Vaidyanathan, A.; Valtonen-Mattila, N.; Valverde, J.; Vandenbroucke, J.; van Eeden, T.; van Eijndhoven, N.; van Rootselaar, L.; van Santen, J.; Carbonell, F. J. Vara; Varsi, F.; Veberic, D.; Veitch-Michaelis, J.; Venugopal, M.; Carrasco, S. Vergara; Verpoest, S.; Vieregg, A.; Vijai, A.; Villarreal, J.; Walck, C.; Wang, A.; Washington, D.; Weaver, C.; Weigel, P.; Weindl, A.; Weldert, J.; Wen, A. Y.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Weyrauch, M.; Whitehorn, N.; Wiebusch, C. H.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Witthaus, L.; Wolf, M.; Wörner, G.; Wrede, G.; Wren, S.; Xu, X. W.; Yañez, J. P.; Yao, Y.; Yildizci, E.; Yoshida, S.; Young, R.; Yu, F.; Yu, S.; Yuan, T.; Zegarelli, A.; Zhang, S.; Zhang, Z.; Zhelnin, P.; Zierke, S.; Zilberman, P.; Zimmerman, M.; Collaboration, IceCube-Gen2
Report
G Collaboration; Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gui, H.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kimo, J.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Lahmann, R.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlemper, O.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glusenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Liu, C. H.; Marsee, M. J.; McLennan, C.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Ryckbosch, D.; Schluter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Allison, P. ; Archambault, S. ; Bard, R. ; Beatty, J.J. ; Beheler-Amass, M. ; Besson, D.Z. ; Beydler, M. ; Bogdan, M. ; Chen, C.-C. ; Chen, C.-H. ; Chen, P. ; Clark, B.A. ; Clough, A. ; Connolly, A. ; Cremonesi, L. ; Davies, J. ; Deaconu, C. ; DuVernois, M.A. ; Friedman, E. ; Hanson, J. ; Hanson, K. ; Haugen, J. ; Hoffman, K.D. ; Hokanson-Fasig, B. ; Hong, E. ; Hsu, S.-Y. ; Hu, L. ; Huang, J.-J. ; Huang, M.-H. ; Hughes, K. ; Ishihara, A. ; Karle, A. ; Kelley, J.L. ; Khandelwal, R. ; Kim, M. ; Kravchenko, I. ; Kruse, J. ; Kurusu, K. ; Landsman, H. ; Latif, U.A. ; Laundrie, A. ; Li, C.-J. ; Liu, T.C. ; Lu, M.-Y. ; Ludwig, A. ; Mase, K. ; Meures, T. ; Nam, J. ; Nichol, R.J. ; Nir, G. ; Oberla, E. ; ÓMurchadha, A. ; Pan, Y. ; Pfendner, C. ; Ransom, M. ; Ratzlaff, K. ; Roth, J. ; Sandstrom, P. ; Seckel, D. ; Shiao, Y.-S. ; Shultz, A. ; Smith, D. ; Song, M. ; Sullivan, M. ; Touart, J. ; Vieregg, A.G. ; Wang, M.-Z. ; Wang, S.-H. ; Wei, K. ; Wissel, S.A. ; Yoshida, S. ; Young, R.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 June 2019 930:112-125
Academic Journal
Allison, P. ; Archambault, S. ; Auffenberg, J. ; Bard, R. ; Beatty, J.J. ; Beheler-Amass, M. ; Besson, D.Z. ; Beydler, M. ; Chen, C.C. ; Chen, C.H. ; Chen, P. ; Christenson, A. ; Clark, B.A. ; Connolly, A. ; Cremonesi, L. ; Deaconu, C. ; Duvernois, M. ; Friedman, L. ; Gaior, R. ; Hanson, J. ; Hanson, K. ; Haugen, J. ; Hoffman, K.D. ; Hong, E. ; Hsu, S.Y. ; Hu, L. ; Huang, J.J. ; Huang, M.-H.A. ; Ishihara, A. ; Karle, A. ; Kelley, J.L. ; Khandelwal, R. ; Kim, M.-C. ; Kravchenko, I. ; Kruse, J. ; Kurusu, K. ; Kuwabara, T. ; Landsman, H. ; Latif, U.A. ; Laundrie, A. ; Li, C.-J. ; Liu, T.-C. ; Lu, M.-Y. ; Mase, K. ; Meures, T. ; Nam, J. ; Nichol, R.J. ; Nir, G. ; Novikov, A. ; Oberla, E. ; O’ Murchadha, A. ; Pan, Y. ; Pfendner, C. ; Ratzlaff, K. ; Relich, M. ; Roth, J. ; Sandstrom, P. ; Seckel, D. ; Shiao, Y.S. ; Shultz, A. ; Song, M. ; Touart, J. ; Varner, G.S. ; Vieregg, A. ; Wang, M.Z. ; Wang, S.H. ; Wissel, S. ; Yoshida, S. ; Young, R.
In Astroparticle Physics March 2019 108:63-73
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Cataldo, M.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kerr, C.; Klein, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Polfrey, S.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Reichert, M.; Rix, J.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Veale, J.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Report
Allison, P.; Beatty, J.; Besson, D.; Connolly, A.; Cummings, A.; Deaconu, C.; De Kockere, S.; de Vries, K. D.; Frikken, D.; Hast, C.; Santiago, E. Huesca; Kuo, C. -Y.; Kyriacou, A.; Latif, U. A.; Loonen, J.; Loudon, I.; Lukic, V.; McLennan, C.; Mulrey, K.; Nam, J.; Nivedita, K.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Prohira, S.; Ralston, J. P.; Seikh, M. F. H.; Stanley, R. S.; Toscano, S.; Broeck, D. Van den; van Eijndhoven, N.; Wissel, S.
Academic Journal
Prohira, S. ; Novikov, A. ; Besson, D.Z. ; Ratzlaff, K. ; Stockham, J. ; Stockham, M. ; Clem, J.M. ; Young, R. ; Gorham, P.W. ; Allison, P. ; Banerjee, O. ; Batten, L. ; Beatty, J.J. ; Belov, K. ; Binns, W.R. ; Bugaev, V. ; Cao, P. ; Chen, C. ; Chen, P. ; Connolly, A. ; Cremonesi, L. ; Dailey, B. ; Deaconu, C. ; Dowkontt, P.F. ; Fox, B.D. ; Gordon, J. ; Hast, C. ; Hill, B. ; Hupe, R. ; Israel, M.H. ; Kowalski, J. ; Lam, J. ; Learned, J.G. ; Liewer, K.M. ; Liu, T.C. ; Ludwig, A. ; Matsuno, S. ; Miki, C. ; Mottram, M. ; Mulrey, K. ; Nam, J. ; Nichol, R.J. ; Oberla, E. ; Rauch, B.F. ; Roberts, J. ; Romero-Wolf, A. ; Rotter, B. ; Russell, J. ; Saltzberg, D. ; Schoorlemmer, H. ; Seckel, D. ; Stafford, S. ; Strutt, B. ; Tatem, K. ; Varner, G.S. ; Vieregg, A.G. ; Wissel, S.A. ; Wu, F.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 February 2019 918:60-66
Academic Journal
Allison, P. ; Banerjee, O. ; Beatty, J.J. ; Connolly, A. ; Deaconu, C. ; Gordon, J. ; Gorham, P.W. ; Kovacevich, M. ; Miki, C. ; Oberla, E. ; Roberts, J. ; Rotter, B. ; Stafford, S. ; Tatem, K. ; Batten, L. ; Belov, K. ; Besson, D.Z. ; Binns, W.R. ; Bugaev, V. ; Cao, P. ; Chen, C. ; Chen, P. ; Chen, Y. ; Clem, J.M. ; Cremonesi, L. ; Dailey, B. ; Dowkontt, P.F. ; Hsu, S. ; Huang, J. ; Hupe, R. ; Israel, M.H. ; Kowalski, J. ; Lam, J. ; Learned, J.G. ; Liewer, K.M. ; Liu, T.C. ; Ludwig, A.B. ; Matsuno, S. ; Mulrey, K. ; Nam, J. ; Nichol, R.J. ; Novikov, A. ; Prohira, S. ; Rauch, B.F. ; Ripa, J. ; Romero-Wolf, A. ; Russell, J. ; Saltzberg, D. ; Seckel, D. ; Shiao, J. ; Stockham, J. ; Stockham, M. ; Strutt, B. ; Varner, G.S. ; Vieregg, A.G. ; Wang, S. ; Wissel, S.A. ; Wu, F. ; Young, R.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 June 2018 894:47-56
Report
Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Giri, P.; Hanson, J.; Harty, N.; Hoffman, K. D.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Latif, U. A.; Liu, C. H; Liu, T. C.; Luszczak, W.; Mase, K.; Muzio, M. S.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Salcedo-Gomez, A.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shaio, Y. -S.; Smith, D.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
Academic Journal
Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Chen, Y. -C.; Clark, B. A.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.
Academic Journal
Avva, J. ; Bechtol, K. ; Chesebro, T. ; Cremonesi, L. ; Deaconu, C. ; Gupta, A. ; Ludwig, A. ; Messino, W. ; Miki, C. ; Nichol, R. ; Oberla, E. ; Ransom, M. ; Romero-Wolf, A. ; Saltzberg, D. ; Schlupf, C. ; Shipp, N. ; Varner, G. ; Vieregg, A.G. ; Wissel, S.A.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 11 October 2017 869:46-55
Academic Journal
Agarwal, S.; Ali, S.; Besson, D.; Couberly, K.; Hornhuber, C.; Mikhailova, M.; Nozdrina, A.; Seikh, M.F.H.; Young, R.; Aguilar, J.A.; Camphyn, R.; Chiche, S.; Korntheuer, M.; Schlüter, F.; Toscano, S.; Alden, N.; Deaconu, C.; Oberla, E.; Smith, D.; Vieregg, A.G.; Welling, C.; Windischhofer, P.; Allison, P.; Hughes, K.; Betts, M.; Hendricks, B.; Krebs, R.; Muzio, M.; Tutt, J.; Wissel, S.; Bishop, A.; Karle, A.; Kelley, J.L.; Tosi, D.; de Kockere, S.; de Vries, K.D.; Latif, U.; Scholten, O.; Stoffels, J.; Van Den Broeck, D.J.; van Eijndhoven, N.; Botner, O.; Coleman, A.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Hallgren, A.; Heyer, N.; Ravn, M.; Bouma, S.; Cataldo, M.; Henrichs, J.; Klein, C.; Lahmann, R.; Laub, P.; Meyers, Z.S.; Nelles, A.; Pyras, L.; Reichert, M.; Terveer, K.; Zink, A.; Buitink, S.; Mulrey, K.; Clark, B.A.; Vijai, A.; Hallmann, S.; Karg, T.; Kowalski, M.; Hanson, J.C.; Kravchenko, I.; Liu, C.-H.; Marsee, M.J.; Williams, D.R.; Novikov, A.; Punsuebsay, N.; Seckel, D.; Oeyen, B.; Ryckbosch, D.; Kerr, C.; Polfrey, S.; Rix, J.; Veale, J.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 April 2025, 20(4))
Academic Journal
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, Olga; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, Alan; Couberly, K.; de Kockere, S.; De Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, Christian; Glüsenkamp, Thorsten; Gui, H.; Hallgren, Allan, 1951; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, Nils; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kimo, J.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Lahmann, R.; Liu, C. H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, Martin; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlemper, O.; Schluter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Van Den Broeck, D. J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Journal of Instrumentation. 20(11)
Academic Journal
Battat, J.B.R. ; Irastorza, I.G. ; Aleksandrov, A. ; Asada, T. ; Baracchini, E. ; Billard, J. ; Bosson, G. ; Bourrion, O. ; Bouvier, J. ; Buonaura, A. ; Burdge, K. ; Cebrián, S. ; Colas, P. ; Consiglio, L. ; Dafni, T. ; D’Ambrosio, N. ; Deaconu, C. ; De Lellis, G. ; Descombes, T. ; Di Crescenzo, A. ; Di Marco, N. ; Druitt, G. ; Eggleston, R. ; Ferrer-Ribas, E. ; Fusayasu, T. ; Galán, J. ; Galati, G. ; García, J.A. ; Garza, J.G. ; Gentile, V. ; Garcia-Sciveres, M. ; Giomataris, Y. ; Guerrero, N. ; Guillaudin, O. ; Guler, A.M. ; Harton, J. ; Hashimoto, T. ; Hedges, M.T. ; Iguaz, F.J. ; Ikeda, T. ; Jaegle, I. ; Kadyk, J.A. ; Katsuragawa, T. ; Komura, S. ; Kubo, H. ; Kuge, K. ; Lamblin, J. ; Lauria, A. ; Lee, E.R. ; Lewis, P. ; Leyton, M. ; Loomba, D. ; Lopez, J.P. ; Luzón, G. ; Mayet, F. ; Mirallas, H. ; Miuchi, K. ; Mizumoto, T. ; Mizumura, Y. ; Monacelli, P. ; Monroe, J. ; Montesi, M.C. ; Naka, T. ; Nakamura, K. ; Nishimura, H. ; Ochi, A. ; Papevangelou, T. ; Parker, J.D. ; Phan, N.S. ; Pupilli, F. ; Richer, J.P. ; Riffard, Q. ; Rosa, G. ; Santos, D. ; Sawano, T. ; Sekiya, H. ; Seong, I.S. ; Snowden-Ifft, D.P. ; Spooner, N.J.C. ; Sugiyama, A. ; Taishaku, R. ; Takada, A. ; Takeda, A. ; Tanaka, M. ; Tanimori, T. ; Thorpe, T.N. ; Tioukov, V. ; Tomita, H. ; Umemoto, A. ; Vahsen, S.E. ; Yamaguchi, Y. ; Yoshimoto, M. ; Zayas, E.
In Physics Reports 29 November 2016 662:1-46
Report
Santiago, E. Huesca; de Vries, K. D.; Allison, P.; Beatty, J.; Besson, D.; Connolly, A.; Cummings, A.; Deaconu, C.; De Kockere, S.; Frikken, D.; Hast, C.; Kuo, C. -Y.; Kyriacou, A.; Latif, U. A.; Loudon, I.; Lukic, V.; McLennan, C.; Mulrey, K.; Nam, J.; Nivedita, K.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Prohira, S.; Ralston, J. P.; Seikh, M. F. H.; Stanley, R. S.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Broeck, D. Van den; van Eijndhoven, N.; Wissel, S.
Phys. Rev. D 109 (2024) 083012
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Deaconu, C.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어