학술논문

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(예 : 2010-2015)
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Conference
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on. :229-232 Mar, 2012
Academic Journal
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; FEB 2006, 19 1, p67-p77, 11p.
Academic Journal
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES; NOV 2003, 50 11, p2236-p2247, 12p.
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[AR] Bortesi, L
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