학술논문
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Conference
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on. :229-232 Mar, 2012
Academic Journal
Beghelli, S; de Manzoni, G; Barbi, S; Tomezzoli, A; Roviello, F; Di Gregorio, C; Vindigni, C; Bortesi, L; Parisi, A; Saragoni, L; Scarpa, A; Moore, PS
Academic Journal
Academic Journal
Zanesi, N; Aqeilan, R; Drusco, A; Kaou, M; Sevignani, C; Costinean, S; Bortesi, L; La Rocca, G; Koldovsky, P; Volinia, S; Mancini, R; Calin, G; Scott, CP; Pekarsky, Y; Croce, CM
Academic Journal
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[AR] Bortesi, L
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