학술논문
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Conference
Almudever, C. G.; Lao, L.; Fu, X.; Khammassi, N.; Ashraf, I.; Iorga, D.; Varsamopoulos, S.; Eichler, C.; Wallraff, A.; Geck, L.; Kruth, A.; Knoch, J.; Bluhm, H.; Bertels, K
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017. :836-845 Mar, 2017
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