학술논문
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Academic Journal
Jang, Dongkyu; Kim, Daekyum; Lee, Jieun; Lee, Inkyum; Ahn, Sang Bin; Hong, Yoonki; Kim, Shindeuk; Park, Taehoon; Ban, Hyodong
In Microelectronics Reliability June 2024 157
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[AR] Ahn, Sang Bin
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