학술논문
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Academic Journal
Karve, G.; Motsnyi, V.; Wei, W.; Visker, J.; Chancerel, F.; Ackaert, J.; Puybaret, R.; Dutta, B.; Sabuncuoglu Tezcan, D.; Peng, L.; Soussan, P.; Severi, S.; Osman, H.; Li, Y.
In: Japanese Journal of Applied Physics . (Japanese Journal of Applied Physics, 1 April 2024, 63(4))
Academic Journal
Ackaert, J. ; Charavel, R. ; Dhondt, K. ; Vlachakis, B. ; De Schepper, L. ; Millecam, M. ; Vandevelde, E. ; Bogaert, P. ; Iline, A. ; De Backer, E. ; Vlad, A. ; Raskin, J.-P.
In Microelectronics Reliability 2008 48(8):1553-1556
Conference
2010 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology IC Design and Technology (ICICDT), 2010 IEEE International Conference on. :98-101 Jun, 2010
Academic Journal
In Microelectronics Reliability 2001 41(9):1403-1407
Conference
2006 IEEE International Conference on IC Design and Technology Integrated Circuit Design and Technology, 2006. ICICDT '06. 2006 IEEE International Conference on. :1-5 2006
Conference
2005 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT 2005. Integrated circuit design and technology Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT 2005. 2005 International Conference on. :91-98 2005
Conference
2005 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT 2005. Integrated circuit design and technology Integrated Circuit Design and Technology, 2005. ICICDT 2005. 2005 International Conference on. :103-106 2005
Conference
2004 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology (IEEE Cat. No.04EX866) Integrated circuit design and technology Integrated Circuit Design and Technology, 2004. ICICDT '04. International Conference on. :223-226 2004
Academic Journal
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology IEEE Trans. Compon., Packag. Manufact. Technol. Components, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on. 4(2):240-247 Feb, 2014
Conference
7th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage Plasma- and process-induced damage Plasma- and Process-Induced Damage, 2002 7th International Symposium on. :45-48 2002
Conference
Proceedings of the 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.02TH8614) Physical and failure analysis of integrated circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2002. IPFA 2002. Proceedings of the 9th International Symposium on the. :242-245 2002
Conference
32nd European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 2002. Proceeding of the 32nd European. :267-270 2002
Conference
Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2001 (Cat. No.01TH8548) Physical and failure analysis of integrated circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2001. IPFA 2001. Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the. :224-227 2001
Conference
Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2001 (Cat. No.01TH8548) Physical and failure analysis of integrated circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2001. IPFA 2001. Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the. :220-223 2001
Conference
2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.01TH8538) Plasma- and process-induced damage Plasma- and Process-Induced Damage, 2001 6th International Symposium on. :120-123 2001
Conference
Chevalier, P.; De Pestel, F.; Ziad, H.; Fatkhoutdinov, M.; Ackaert, J.; Coppens, P.; Craninckx, J.; Guncer, S.; Pontioglu, G.; Tasci, P.; Yayil, F.; Ergun, B.S.; Kurhan, A.I.; Vestiel, E.; De Backer, E.; Loheac, J.-L.; Tack, M.
2001 International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications. EDMO 2001 (Cat. No.01TH8567) Electron devices for microwave and optoelectronic applications Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications, 2001 International Symposium on. :175-180 2001
Conference
2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479) Plasma process-induced damage Plasma Process-Induced Damage, 2000 5th International Symposium on. :77-80 2000
Conference
29th European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 1999. Proceeding of the 29th European. 1:164-167 1999
Conference
1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395) Plasma process-induced damage Plasma Process-Induced Damage, 1999 4th International Symposium on. :8-11 1999
Academic Journal
Zhichun Wang; Ackaert, J.; Salm, C.; Kuper, F.G.; Tack, M.; De Backer, E.; Coppens, P.; Luc De Schepper; Vlachakis, B.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 51(6):1017-1024 Jun, 2004
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