학술논문
Detailed characterization of electron sources yielding first demonstration of European X-ray Free-Electron Laser beam quality
Document Type
Journal
Author
Stephan, F.; Boulware, C. H.; Krasilnikov, M.; Baehr, J.; Asova, G.; Donat, A.; Gensch, U.; Grabosch, H. J.; Haenel, M.; Hakobyan, L.; Henschel, H.; Ivanisenko, Y.; Jachmann, L.; Khodyachykh, S.; Khojoyan, M.; Koehler, W.; Korepanov, S.; Koss, G.; Kretzschmann, A.; Leich, H.; Luedecke, H.; Meissner, A.; Oppelt, A.; Petrosyan, B.; Pohl, M.; Riemann, S.; Rimjaem, S.; Sachwitz, M.; Schoeneich, B.; Scholz, T.; Schulze, H.; Schultze, J.; Schwendicke, U.; Shapovalov, A.; Spesyvtsev, R.; Staykov, L.; Tonisch, F.; Walter, T.; Weisse, S.; Wenndorff, R.; Winde, M.; v. Vu, L.; Duerr, H.; Kamps, T.; Richter, D.; Sperling, M.; Ovsyannikov, R.; Vollmer, A.; Knobloch, J.; Jaeschke, E.; Boster, J.; Brinkmann, R.; Choroba, S.; Flechsenhar, K.; Floettmann, K.; Gerdau, W.; Katalev, V.; Koprek, W.; Lederer, S.; Martens, C.; Pucyk, P.; Schreiber, S.; Simrock, S.; Vogel, E.; Vogel, V.; Rosbach, K.; Bonev, I.; Tsakov, I.; Michelato, P.; Monaco, L.; Pagani, C.; Sertore, D.; Garvey, T.; Will, I.; Templin, I.; Sandner, W.; Ackermann, W.; Arevalo, E.; Gjonaj, E.; Mueller, W. F. O.; Schnepp, S.; Weiland, T.; Wolfheimer, F.; Roensch, J.; Rossbach, J.
Source
Subject
Language
English
ISSN
10984402