학술논문
Simulation of charge readout with segmented tiles in nEXO
Document Type
Journal
Author
Li, Z.; Cen, W. R.; Robinson, A.; Moore, D. C.; Wen, L. J.; Odian, A.; Al Kharusi, S.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; De St Croix, A.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hoessl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retiere, F.; Richman, M.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Skarpaas, K.; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.; nEXO Collaboration
Source
Subject
Language
English
ISSN
17480221