학술논문 – 부산대학교 도서관

학술논문

replay검색결과 돌아가기

search검색화면

Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET

Document Type

Journal

Author

Alberton, Saulo G.; Aguiar, V. A. P.; Medina, N. H.; Added, N.; Macchione, E. L. A.; Menegasso, R.; Cesario, G. J.; Santos, H. C.; Scarduelli, V. B.; Alcantara-Nunez, J. A.; Guazzelli, M. A.; Santos, R. B. B.; Flechas, D.

Source

MICROELECTRONICS RELIABILITY; OCT 2022, 137 p114784 7p.

Subject

Language

English

ISSN

1872941X

Online Access

Full Text (ScienceDirect 종량제) Web of Science JCR 저널정보 Scopus Find it@PNU

이메일