학술논문
Polarized structure function sigma(LT ') from pi(0)p electroproduction data in the resonance region at 0.4 GeV2 < Q(2) < 1.0 GeV2
Document Type
Journal
Author
Isupov, E. L.; Burkert, V. D.; Golubenko, A. A.; Joo, K.; Markov, N. S.; Mokeev, V., I; Smith, L. C.; Armstrong, W. R.; Atac, H.; Avakian, H.; Baltzell, N. A.; Barion, L.; Battaglieri, M.; Bedlinskiy, I; Benmokhtar, F.; Bianconi, A.; Biondo, L.; Biselli, A. S.; Bondi, M.; Bossu, F.; Briscoe, W. J.; Brooks, W. K.; Bulumulla, D.; Capobianco, R. A.; Carman, D. S.; Carvajal, J. C.; Chatagnon, P.; Chesnokov, V; Ciullo, G.; Cole, P. L.; Clary, B. A.; Contalbrigo, M.; Costantini, G.; D'Angelo, A.; Dashyan, N.; De Vita, R.; Defurne, M.; Deur, A.; Diehl, S.; Djalali, C.; Dupre, R.; Egiyan, H.; El Alaoui, A.; El Fassi, L.; Elouadrhiri, L.; Eugenio, P.; Fegan, S.; Filippi, A.; Gavalian, G.; Gilfoyle, G. P.; Glazier, D., I; Gothe, R. W.; Griffioen, K. A.; Guidal, M.; Guo, L.; Hafidi, K.; Hakobyan, H.; Hattawy, M.; Hayward, T. B.; Heddle, D.; Hicks, K.; Hobart, A.; Holtrop, M.; Illari, I.; Ireland, D. G.; Jenkins, D.; Jo, H. S.; Keller, D.; Khanal, A.; Khandaker, M.; Kim, A.; Kim, W.; Klein, F. J.; Klimenko, V; Kripko, A.; Kubarovsky, V; Lagerquist, V; Lanza, L.; Leali, M.; Lenisa, P.; Livingston, K.; MacGregor, I. J. D.; Marchand, D.; Marsicano, L.; Mascagna, V; McKinnon, B.; Meziani, Z. E.; Migliorati, S.; Mineeva, T.; Mirazita, M.; Camacho, C. Munoz; Nadel-Turonski, P.; Neupane, K.; Niccolai, S.; Osipenko, M.; Pandey, P.; Paolone, M.; Pappalardo, L. L.; Paremuzyan, R.; Pasyuk, E.; Paul, S. J.; Phelps, W.; Pilleux, N.; Pogorelko, O.; Poudel, J.; Price, J. W.; Prok, Y.; Raue, B. A.; Reed, T.; Ripani, M.; Ritman, J.; Rowley, J.; Sabatie, F.; Salgado, C.; Schmidt, A.; Schumacher, R. A.; Sharabian, Y. G.; Shirokov, E., V; Shrestha, U.; Simmerling, P.; Sokhan, D.; Sparveris, N.; Stepanyan, S.; Strakovsky, I. I.; Strauch, S.; Tan, J. A.; Tyson, R.; Ungaro, M.; Vallarino, S.; Venturelli, L.; Voskanyan, H.; Voutier, E.; Watts, D.; Wei, K.; Wei, X.; Wood, M. H.; Yale, B.; Zachariou, N.; Zhang, J.; Ziegler, V; CLAS Collaboration
Source
Subject
Language
English
ISSN
24699993