학술논문
Charge collection characterisation with the Transient Current Technique of the ams H35DEMO CMOS detector after proton irradiation
Document Type
Journal
Author
Anders, J.; Benoit, M.; Braccini, S.; Casanova, R.; Chen, H.; Chen, K.; Di Bello, F. A.; Fehr, A.; Ferrere, D.; Forshaw, D.; Golling, T.; Gonzalez-Sevilla, S.; Lacobucci, G.; Kiehn, M.; Lanni, F.; Liu, H.; Meng, L.; Merlassino, C.; Miucci, A.; Nessi, M.; Peric, I.; Rimoldi, M.; Sultan, D. M. S.; Pinto, M. Vicente Barreto; VileIla, E.; Weber, M.; Weston, T.; Wu, W.; Xu, L.; Zaffaroni, E.
Source
Subject
Language
English
ISSN
17480221