학술논문
Test beam measurement of ams H35 HV-CMOS capacitively coupled pixel sensor prototypes with high-resistivity substrate
Document Type
Journal
Author
Benoit, M.; Braccini, L. S.; Casanova, R.; Cavallaro, E.; Chen, H. H.; Chen, K.; Di Bell, D. F. A.; Ferrere, D.; Frizzell, D.; Golfing, T.; Gonzalez-Sevilla, S.; Grinstein, S.; Lacobucci, G.; Kiehn, M.; Lanni, F.; Liu, H.; Metcalfe, J.; Meng, L.; Merlassino, C.; Miucci, A.; Muenstermann, D.; Nessi, M.; Okawa, H.; Peric, I; Rimoldi, M.; Ristic, B.; Sultan, D. M. S.; Terzo, S.; Pinto, M. Vicente Barrero; Figueras, E. Vilella; Weber, M.; Weston, T.; Wu, W.; Xie, J.; Xu, L.; Zaffaroni, E.; Zhang, M.
Source
Subject
Language
English
ISSN
17480221