학술논문

Irradiation aging of the CMS Drift Tube muon detector
Document Type
Journal
Author
Redondo Ferrero, D. D.Abbiendi, G.Alcaraz Maestre, J.Alvarez Fernandez, A.Alvarez Gonzalez, B.Amapane, N.Bachiller, I.Barcala, J. M.Barcellan, L.Battilana, C.Bellato, M.Bencze, G.Benettoni, M.Beni, N.Benvenuti, A.Blanco Ramos, L. C.Boletti, A.Bragagnolo, A.Brochero Cifuentes, J. A.Cafaro, V.Calderon, A.Calvo, E.Cappati, A.Carlin, R.Carrillo Montoya, C. A.Caturan, S.Cavallo, F. R.Cela Ruiz, J. M.Cepeda, M.Cerrada, M.Chazin Quero, B.Checchia, P.Ciano, L.Colino, N.Corti, D.Cotto, G.Cuevas, J.Cuffiani, M.Dallavalle, G. M.Dattola, D.De La Cruz, B.De Remigis, P.de Troconiz, J. F.Erice Cid, C.Bedoya, C. F.Fabbri, F.Fanfani, A.Fasanella, D.Fernandez Manteca, P.Fernandez Menendez, J.Fernandez Ramos, J. P.Folgueras, S.Fouz, M. C.Francia Ferrero, D.Garcia Romero, J.Gasparini, F.Gasparini, U.Giordano, V.Gomez Casademunt, F.Gonella, F.Gonzalez Caballero, I.Gonzalez Fernandez, J. R.Lopez, O. GonzalezGosh, S.Lopez, S. GoyGozzelino, A.Griggio, A.Grosso, G.Guandalini, C.Guiducci, L.Gulmini, M.Hebbeker, T.Heidemann, C.Hernandez, J. M.Hoepfner, K.Iemmi, F.Isocrate, R.Josa, M. I.Kiani, B.Lacaprara, S.Lo Meo, S.Marcellini, S.Margoni, M.Marin, J.Mariotti, C.Martin Martin, I.Martinez Morales, J. J.Martinez Rivera, C.Maselli, S.Masetti, G.Meneguzzo, A. T.Merschmeyer, M.Mocellin, G.Modenese, L.Molinero, A.Molnar, J.Montecassiano, F.Moran, D.Navarrete, J. J.Navarria, F.Tobar, A. NavarroOller, J. C.Passaseo, M.Pazzini, J.Pegoraro, M.Puerta Pelayo, J.Pelliccioni, M.Philipps, B.Piedra Gomez, J.Pinna Angioni, G. L.Pozzobon, N.Presilla, M.Prieels, C.Primavera, F.Puras Sanchez, J. C.Redondo, I.Reithler, H.Rodrigo, T.Rodriguez Bouza, V.Roemer, J.Ronchese, P.Rossin, R.Rotondo, F.Rovelli, T.Sanchez Cruz, S.Sanchez Navas, S.Sastre, J.Scodellaro, L.Simonetto, F.Soares, M. S.Staiano, A.Szillasi, Z.Teyssier, D. F.Toniolo, N.Torassa, E.Trocino, D.Ujvari, B.Ventura, S.Cortabitarte, R. VilarGarcia, J. VizanZanetti, M.Zantis, F. P.Zilizi, G.Zotto, P.
Source
RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY; JUL 2020, 172 p108747 6p.
Subject
Language
English
ISSN
0969806X