부산대학교 도서관

Riassunto:Si dimostra che un collegamento LF ((30/300) kHz) che operi per propagazione ionosferica a un solo balzo di un’ondaordinaria equasi trasversale puÒ essere usato per la determinazione della concentrazione elettronica ad alcune quote nella regioneD: è sufficiente registrare certe peculiari doppiette di crepacci nell’ampiezza del segnale ricevuto. Tali crepacci — quindici dei quali sono stati registrati nel febbraio e marzo 1970 all’IENGF di Torino — sono interpretati come il risultato di un rapido incremento della eoncentrazione elettroniea nella bassa ionosfera e sono riportati ai seguenti valori della eoncentrazione elettronieaN e della frequenza di collisione elettronieav: a)N = 0.107f2b)v= 13.60f, dovef è la frequenza di lavoro. Poichév =v(h) dipende soltanto dalla quotah ed è un dato conosciuto, un punto nel profilo della concentrazione elettronica, definite daN = 0.107f2 e dah =h(13.60f ), puÒ venire associato a ciascun crepaccio. Detti crepacci forniscono un’informazione che si riferisce a profili di concentrazione elettronica disturbati, poiché essi corrispondono a condizioni disturbate della ionosfera. Si mostra pertanto come un profilo della concentrazione elettronica in condizioni di quiete possa essere derivato da un profilo per condizioni disturbate.
РЕжУМЕ:пОкАжыВАЕтсь, ЧтО LF (30=300 kHz) с Вьжь, ДЕИстВУУЩАь ИсклУЧИтЕльНО НА ОДН О-скАЧкОВОМ ИОНОсФЕР НОМ РАспРОстРАНЕНИИ ОБы кНОВЕННОИ И кВАжuпОпЕ РЕЧНОИ РАспРОстРАНЕНИИ ОБы кНОВЕННОИ И кВАжuпОпЕ РЕЧНОИ ВОлНы, МОжЕт Быть ИспО льжОВАНА Дль ОпРЕДЕл ЕНИь ЁлЕктРОННОИ плОтНОс тИ НА НЕкОтОРых ВысОт Ах В D ОБлАстИ. ЁтОт МЕтОД пОжВОльЕт ДЕтЕктИРОВАть НЕ ОБлАстИ. ЁтОт МЕтОД пО жВОльЕт ДЕтЕктИРОВА ть НЕкОтОРыЕ хАРАктЕРНыЕ ДУБлЕты пРОВАлОВ ИНтЕНсИВНО стЕИ сИгНАлОВ НА МЕстЕ пРИЕМА. тАкИЕ пРОВА НЕкОтОРыЕ хАРАктЕРН ыЕ ДУБлЕты пРОВАлОВ ИНтЕНсИВНОстЕИ сИгН АлОВ НА МЕстЕ пРИЕМА. т АкИЕ пРОВАлы, пьтНАДцАть Иж кОтОРы х НАБлУДАлИсь В тЕЧЕН ИЕ ФЕВРАль И МАРтА 1970 гОДА НА IENGF В тУРИН Е, Иq ИНтЕНсИВНОстЕИ сИгН АлОВ НА МЕстЕ пРИЕМА. т АкИЕ пРОВАлы, пьтНАДцАть Иж кОтОРы х НАБлУДАлИсь В тЕЧЕН ИЕ ФЕВРАль И МАРтА 1970 гОДА НА IENGF В тУРИН Е, ИНтЕРпРЕтИРУУтсь, к Ак РЕжУльтАт БыстРОгО У ВЕлИЧЕНИь ЁлЕктРОНН ОИ плОтНОстИ В НИжНЕИ ЧАст пРОВАлы, пьтНАДцАть И ж кОтОРых НАБлУДАлИс ь В тЕЧЕНИЕ ФЕВРАль И МАРтА 1970 гОДА НА IENGF В тУРИНЕ, ИНтЕРпРЕ тИРУУтсь, кАк РЕжУльтАт БыстРО гО УВЕлИЧЕНИь ЁлЕктР ОННОИ плОтНОстИ В НИжНЕИ ЧА стИ ИОНОсФЕРы. тЕОРЕт ИЧЕскИ пОкАжыВАЕтсь, ЧтО пРО ВАлы хАРАктЕРИжУУтс ь слЕДУУЩИМИ ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРО ФЕВРАль И МАРтА 1970 гОДА НА IENGF В тУРИНЕ, ИНтЕРпРЕ тИРУУтсь, кАк РЕжУльтАт БыстРО гО УВЕлИЧЕНИь ЁлЕктР ОННОИ плОтНОстИ В НИжНЕИ ЧА стИ ИОНОсФЕРы. тЕОРЕт ИЧЕскИ пОкАжыВАЕтсь, ЧтО пРО ВАлы хАРАктЕРИжУУтс ь слЕДУУЩИМИ ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРОН НОИ плОтНОстИ N И ЧАстО тОИ ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: кАк РЕжУльтАт БыстРО гО УВЕлИЧЕНИь ЁлЕктР ОННОИ плОтНОстИ В НИжНЕИ ЧА стИ ИОНОсФЕРы. тЕОРЕт ИЧЕскИ пОкАжыВАЕтсь, ЧтО пРО ВАлы хАРАктЕРИжУУтс ь слЕДУУЩИМИ ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРОН НОИ плОтНОстИ N И ЧАстО тОИ ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: плОтНОстИ В НИжНЕИ ЧА стИ ИОНОсФЕРы. тЕОРЕт ИЧЕскИ пОкАжыВАЕтсь, ЧтО пРО ВАлы хАРАктЕРИжУУтс ь слЕДУУЩИМИ ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРОН НОИ плОтНОстИ N И ЧАстО тОИ ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: пОкАжыВАЕтсь, ЧтО пРО ВАлы хАРАктЕРИжУУтс ь слЕДУУЩИМИ ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРОН НОИ плОтНОстИ N И ЧАстО тОИ ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: ВЕлИЧИНАМИ ЁлЕктРОН НОИ плОтНОстИ N И ЧАстО тОИ ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: ЁлЕктРОННых сОyДАРЕН ИИ v: А) N=0.107 f2 И b) v= 13.60/, гДЕ f пРЕДстАВльЕт РАБ ОЧУУ ЧАстОтУ. тАк кАк v = v(h) жАВИсИт тОлькО От ВысОты h И пРЕ ДстАВльЕт ИжВЕстНУУ ВЕлИЧИНУ, тО тОЧкА В пРОФИлЕ ЁлЕкт РОННОИ плОтНОстИ, a ИМЕ ННО, N = 0.107 f тО тОЧкА В пРОФИлЕ ЁлЕ ктРОННОИ плОтНОстИ, a И МЕННО, N = 0.107 f2 И h = h (13.60 f), МОжЕт Быть сВьжАН А с кАжДыМ пРОВАлОМ. Ёт И пРОВАлы ДАУт ИНФОРМА цИУ, кАсАУЩУУсь пРОФИ ль ВОжМУЩЕНН f2 И h = h (13.60 f), МОжЕт Быть сВьжА НА с кАжДыМ пРОВАлОМ. Ё тИ пРОВАлы ДАУт ИНФОРМА цИУ, кАсАУЩУУсь пРОФИ ль ВОжМУЩЕННОИ ЁлЕктРО ННОИ плОтНОстИ, тАк кА к ОНИ сВьжАНы с ВОжМУЩАУЩИМИ УслОВ ИьМИ В ИОНОсФЕРЕ. ОпИс ыВАЕтсь МЕтОД, c пО пРОВАлы ДАУт ИНФОРМА цИУ, кАсАУЩУУсь пРОФИ ль ВОжМУЩЕННОИ ЁлЕктРО ННОИ плОтНОстИ, тАк кА к ОНИ сВьжАНы с ВОжМУЩАУЩИМИ УслОВ ИьМИ В ИОНОсФЕРЕ. ОпИс ыВАЕтсь МЕтОД, c пОМОЩьУ кОтОРО гО МОжeт Быть ВыВЕДЕН п РОФИль ЁлЕктРОННОИ плОтНОс тИ Дль спОкОИНых УслО ВИИ, ИсхОДь И ВОжМУЩЕННОИ ЁлЕктРО ННОИ плОтНОстИ, тАк кА к ОНИ сВьжАНы с ВОжМУЩАУЩИМИ УслОВ ИьМИ В ИОНОсФЕРЕ. ОпИс ыВАЕтсь МЕтОД, c пОМОЩьУ кОтОРО гО МОжeт Быть ВыВЕДЕН п РОФИль ЁлЕктРОННОИ плОтНОс тИ Дль спОкОИНых УслО ВИИ, ИсхОДь Иж пРОФИль ЁлЕктРОННОИ плОтНОстИ Дль ВОжМУЩ ЕННОгО сОстОьНИь. сВьжАНы с ВОжМУЩАУЩИ МИ УслОВИьМИ В ИОНОсФ ЕРЕ. ОпИсыВАЕтсь МЕтОД, c пО МОЩьУ кОтОРОгО МОжeт Б ыть ВыВЕДЕН пРОФИль ЁлЕктРОННОИ плОтНОстИ Дль спОкОИ Ных УслОВИИ, ИсхОДь Иж пРОФИль ЁлЕ ктРОННОИ плОтНОстИ Д ль ВОжМУЩЕННОгО сОстОь НИь. ОпИсыВАЕтсь МЕтОД, c пО МОЩьУ кОтОРОгО МОжeт Б ыть ВыВЕДЕН пРОФИль ЁлЕктРОННОИ плОтНОстИ Дль спОкОИ Ных УслОВИИ, ИсхОДь Иж пРОФИль ЁлЕ ктРОННОИ плОтНОстИ Д ль ВОжМУЩЕННОгО сОстОь НИь. ВыВЕДЕН пРОФИль ЁлЕк тРОННОИ плОтНОстИ Дл ь спОкОИНых УслОВИИ, ИсхОДь Иж пРО ФИль ЁлЕктРОННОИ плО тНОстИ Дль ВОжМУЩЕННОгО сОстОь НИь. УслОВИИ, ИсхОДь Иж пРО ФИль ЁлЕктРОННОИ плО тНОстИ Дль ВОжМУЩЕННОгО сОстОь НИь. ВОжМУЩЕННОгО сОстОь НИь.