부산대학교 도서관

Original Paper

Aktas, A.; Andreev, V.; Anthonis, T.; Antunovic, B.; Aplin, S.; Asmone, A.; Astvatsatourov, A.; Babaev, A.; Backovic, S.; Baghdasaryan, A.; Baranov, P.; Barrelet, E.; Bartel, W.; Baudrand, S.; Baumgartner, S.; Beckingham, M.; Behnke, O.; Behrendt, O.; Belousov, A.; Berger, N.; Bizot, J.C.; Boenig, M.-O.; Boudry, V.; Bracinik, J.; Brandt, G.; Brisson, V.; Bruncko, D.; Büsser, F.W.; Bunyatyan, A.; Buschhorn, G.; Bystritskaya, L.; Campbell, A.J.; Cassol-Brunner, F.; Cerny, K.; Cerny, V.; Chekelian, V.; Contreras, J.G.; Coughlan, J.A.; Coppens, Y.R.; Cox, B.E.; Cozzika, G.; Cvach, J.; Dainton, J.B.; Dau, W.D.; Daum, K.; de Boer, Y.; Delcourt, B.; Del Degan, M.; De Roeck, A.; De Wolf, E.A.; Diaconu, C.; Dodonov, V.; Dubak, A.; Eckerlin, G.; Efremenko, V.; Egli, S.; Eichler, R.; Eisele, F.; Eliseev, A.; Elsen, E.; Essenov, S.; Falkewicz, A.; Faulkner, P.J.W.; Favart, L.; Fedotov, A.; Felst, R.; Feltesse, J.; Ferencei, J.; Finke, L.; Fleischer, M.; Flucke, G.; Fomenko, A.; Franke, G.; Frisson, T.; Gabathuler, E.; Garutti, E.; Gayler, J.; Gerlich, C.; Ghazaryan, S.; Ginzburgskaya, S.; Glazov, A.; Glushkov, I.; Goerlich, L.; Goettlich, M.; Gogitidze, N.; Gorbounov, S.; Grab, C.; Greenshaw, T.; Gregori, M.; Grell, B.R.; Grindhammer, G.; Gwilliam, C.; Haidt, D.; Hansson, M.; Heinzelmann, G.; Henderson, R.C.W.; Henschel, H.; Herrera, G.; Hildebrandt, M.; Hiller, K.H.; Hoffmann, D.; Horisberger, R.; Hovhannisyan, A.; Hreus, T.; Hussain, S.; Ibbotson, M.; Ismail, M.; Jacquet, M.; Janssen, X.; Jemanov, V.; Jönsson, L.; Johnson, C.L.; Johnson, D.P.; Jung, A.W.; Jung, H.; Kapichine, M.; Katzy, J.; Kenyon, I.R.; Kiesling, C.; Klein, M.; Kleinwort, C.; Klimkovich, T.; Kluge, T.; Knies, G.; Knutsson, A.; Korbel, V.; Kostka, P.; Krastev, K.; Kretzschmar, J.; Kropivnitskaya, A.; Krüger, K.; Landon, M.P.J.; Lange, W.; Laštovička-Medin, G.; Laycock, P.; Lebedev, A.; Leibenguth, G.; Lendermann, V.; Levonian, S.; Lindfeld, L.; Lipka, K.; Liptaj, A.; List, B.; List, J.; Lobodzinska, E.; Loktionova, N.; Lopez-Fernandez, R.; Lubimov, V.; Lucaci-Timoce, A.-I.; Lueders, H.; Lux, T.; Lytkin, L.; Makankine, A.; Malden, N.; Malinovski, E.; Marage, P.; Marshall, R.; Marti, L.; Martisikova, M.; Martyn, H.-U.; Maxfield, S.J.; Mehta, A.; Meier, K.; Meyer, A.B.; Meyer, H.; Meyer, J.; Michels, V.; Mikocki, S.; Milcewicz-Mika, I.; Milstead, D.; Mladenov, D.; Mohamed, A.; Moreau, F.; Morozov, A.; Morris, J.V.; Mozer, M.U.; Müller, K.; Murín, P.; Nankov, K.; Naroska, B.; Naumann, T.; Newman, P.R.; Niebuhr, C.; Nikiforov, A.; Nowak, G.; Nowak, K.; Nozicka, M.; Oganezov, R.; Olivier, B.; Olsson, J.E.; Osman, S.; Ozerov, D.; Palichik, V.; Panagoulias, I.; Papadopoulou, T.; Pascaud, C.; Patel, G.D.; Peng, H.; Perez, E.; Perez-Astudillo, D.; Perieanu, A.; Petrukhin, A.; Pitzl, D.; Plačakytė, R.; Portheault, B.; Povh, B.; Prideaux, P.; Rahmat, A.J.; Raicevic, N.; Reimer, P.; Rimmer, A.; Risler, C.; Rizvi, E.; Robmann, P.; Roland, B.; Roosen, R.; Rostovtsev, A.; Rurikova, Z.; Rusakov, S.; Salvaire, F.; Sankey, D.P.C.; Sauter, M.; Sauvan, E.; Schilling, F.-P.; Schmidt, S.; Schmitt, S.; Schmitz, C.; Schoeffel, L.; Schöning, A.; Schultz-Coulon, H.-C.; Sefkow, F.; Shaw-West, R.N.; Sheviakov, I.; Shtarkov, L.N.; Sloan, T.; Smirnov, P.; Soloviev, Y.; South, D.; Spaskov, V.; Specka, A.; Steder, M.; Stella, B.; Stiewe, J.; Stoilov, A.; Straumann, U.; Sunar, D.; Tchoulakov, V.; Thompson, G.; Thompson, P.D.; Toll, T.; Tomasz, F.; Traynor, D.; Trinh, T.N.; Truöl, P.; Tsakov, I.; Tsipolitis, G.; Tsurin, I.; Turnau, J.; Tzamariudaki, E.; Urban, K.; Urban, M.; Usik, A.; Utkin, D.; Valkárová, A.; Vallée, C.; Van Mechelen, P.; Vargas Trevino, A.; Vazdik, Y.; Veelken, C.; Vinokurova, S.; Volchinski, V.; Wacker, K.; Weber, G.; Weber, R.; Wegener, D.; Werner, C.; Wessels, M.; Wessling, B.; Wissing, C.; Wolf, R.; Wünsch, E.; Xella, S.; Yan, W.; Yeganov, V.; Žáček, J.; Zálešák, J.; Zhang, Z.; Zhelezov, A.; Zhokin, A.; Zhu, Y.C.; Zimmermann, J.; Zimmermann, T.; Zohrabyan, H.; Zomer, F.

The European Physical Journal C - Particles and Fields. 48(3):749-766

English

1434-6044
1434-6052