학술논문
2.5 Soft-Error Tolerant SRAM Cell Layout(2. Radiation-Induced Soft Errors,Dependable VLSI System) / 2.5 耐ソフトエラーSRAMレイアウト(第2章:放射線によるソフトエラー,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)
Document Type
Journal Article
Author
Source
日本信頼性学会誌 信頼性 / The Journal of Reliability Engineering Association of Japan. 2013, 35(8):432
Subject
Language
Japanese
ISSN
0919-2697
2424-2543
2424-2543