학술논문
Characterizing stacking faults in single Xe nanoparticles by XFEL / XFELによる単一Xeナノ粒子内部の積層欠陥の評価
Document Type
Journal Article
Author
Akinobu Niozu; Alessandro Colombo; Carlo Callegari; Catalin Miron; Christoph Bostedt; Daehyun You; Davide Galli; Edwin Kukk; Giorgio Rossi; Hironobu Fukuzawa; Kazuhiro Matsuda; Kazuki Asa; Kensuke Tono; Kiyonobu Nagaya; Kiyoshi Ueda; Koji Motomura; Liviu Neagu; Makina Yabashi; Max Bucher; Michele Fraia; Shigeki Owada; Tadashi Togashi; Taishi Ono; Takaki Hatsui; Takashi Kameshima; Tetsuo Katayama; Tomasso Pincelli; Toshiyuki Nishiyama; Tsukasa Takanashi; Yasumasa Joti; Yiwen Li; Yoshiaki Kumagai; Yuhiro Sato; Yuta Ito; 上田 潔; 亀島 敬; 仁王頭 明伸; 伊藤 雄太; 佐藤 由比呂; 初井 宇記; 城地 保昌; 大和田 成起; 富樫 格; 小野 太詩; 本村 幸治; 松田 和博; 永谷 清信; 浅 和貴; 熊谷 嘉晃; 片山 哲夫; 登野 健介; 矢橋 牧名; 福澤 宏宣; 西山 俊幸; 高梨 司
Source
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2019, :817
Subject
Language
Japanese
ISSN
2189-0803