학술논문

Characterization of ZnO/Si Junctions using Polarity-Controlled ZnO Thin Films / 極性制御したZnO薄膜を用いたZnO/Si 接合の特性評価
Document Type
Journal Article
Source
JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2017, :3886
Subject
7a-C17-8
photoemission
polarity
zinc oxide
光電子分光
合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」
極性
薄膜成長
酸化亜鉛
Language
Japanese
ISSN
2436-7613