학술논문

Entwicklung und Anwendung neuartiger Präparationsverfahren für die Transmissionselektronenmikroskopie von dünnen Schichten, Nanopartikeln und Kristalldefekten

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Author

Vieweg, Benito Fernando

Source

Subject

Engineering and mechanical engineering
Preparation method
FIB
REM transmission electron microscopy
thin film
nanoparticles
crystal defect
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Mikroskopie, Werkstoff, Durchstrahlungselektronenmikroskopie, Nanopartikel, D�nne Schicht, Analytische Elektronenmikroskopie, Elektronenmikrosko
Präparationsverfahren
TEM
preparation method

Language

German

Abstract

Erlangen, Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2012

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