학술논문

Wechselwirkung hochgeladener Ionen mit Oberflächen
Document Type
TEXT
Source
Subject
atomic force microscope
Energy dissipation
electronic suggestion
Surface modification
on beam
AFM
electronic excitation
Physik
Ionenstrahlapparatur
hochgeladene Ionen
Rasterkraftmikroskop
Energiedissipation
elektronische Anregung
Oberflächenmodifikation
highly charged ions
surface modification
Language
German
Abstract
Duisburg, Essen, Universität Duisburg-Essen, Diss., 2010