학술논문
The cosmic ray primary composition between 10 15 and 10 16 eV from Extensive Air Showers electromagnetic and TeV muon data
Document Type
Article
Author
Aglietta, M.; Alessandro, B.; Antonioli, P.; Arneodo, F.; Bergamasco, L.; Bertaina, M.; Castagnoli, C.; Castellina, A.; Chiavassa, A.; Cini, G.; D’Ettorre Piazzoli, B.; Di Sciascio, G.; Fulgione, W.; Galeotti, P.; Ghia, P.L.; Iacovacci, M.; Mannocchi, G.; Morello, C.; Navarra, G.; Saavedra, O.; Stamerra, A.; Trinchero, G.C.; Valchierotti, S.; Vallania, P.; Vernetto, S.; Vigorito, C.; Ambrosio, M.; Antolini, R.; Baldini, A.; Barbarino, G.C.; Barish, B.C.; Battistoni, G.; Becherini, Y.; Bellotti, R.; Bemporad, C.; Bernardini, P.; Bilokon, H.; Bower, C.; Brigida, M.; Bussino, S.; Cafagna, F.; Calicchio, M.; Campana, D.; Carboni, M.; Caruso, R.; Cecchini, S.; Cei, F.; Chiarella, V.; Choudhary, B.C.; Coutu, S.; Cozzi, M.; De Cataldo, G.; Dekhissi, H.; De Marzo, C.; De Mitri, I.; Derkaoui, J.; De Vincenzi, M.; Di Credico, A.; Erriquez, O.; Favuzzi, C.; Forti, C.; Fusco, P.; Giacomelli, G.; Giannini, G.; Giglietto, N.; Giorgini, M.; Grassi, M.; Grillo, A.; Guarino, F.; Gustavino, C.; Habig, A.; Hanson, K.; Heinz, R.; Iarocci, E.; Katsavounidis, E.; Katsavounidis, I.; Kearns, E.; Kim, H.; Kyriazopoulou, S.; Lamanna, E.; Lane, C.; Levin, D.S.; Lipari, P.; Longley, N.P.; Longo, M.J.; Loparco, F.; Maaroufi, F.; Mancarella, G.; Mandrioli, G.; Margiotta, A.; Marini, A.; Martello, D.; Marzari-Chiesa, A.; Mazziotta, M.N.; Michael, D.G.; Monacelli, P.; Montaruli, T.; Monteno, M.; Mufson, S.; Musser, J.; Nicolò, D.; Nolty, R.; Orth, C.; Osteria, G.; Palamara, O.; Patera, V.; Patrizii, L.; Pazzi, R.; Peck, C.W.; Perrone, L.; Petrera, S.; Popa, V.; Rainò, A.; Reynoldson, J.; Ronga, F.; Satriano, C.; Scapparone, E.; Scholberg, K.; Sciubba, A.; Serra, P.; Sioli, M.; Sirri, G.; Sitta, M.; Spinelli, P.; Spinetti, M.; Spurio, M.; Steinberg, R.; Stone, J.L.; Sulak, L.R.; Surdo, A.; Tarlè, G.; Togo, V.; Vakili, M.; Walter, C.W.; Webb, R.
Source
In Astroparticle Physics 2004 20(6):641-652
Subject
Language
ISSN
0927-6505