학술논문 – 부산대학교 도서관

학술논문

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Self-heating of stressed VDMOS devices under specific operating conditions

Document Type

Article

Author

Veljković, S.; Mitrović, N.; Jovanović, I.; Živanović, E.; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Mančić, D.; Danković, D.

Source

In Microelectronics Reliability November 2023 150

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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