학술논문 – 부산대학교 도서관

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Isolation properties and failure mechanisms of vertical Pt / n-GaN SBDs

Document Type

Article

Author

Fregolent, M.; Boito, M.; Marcuzzi, A.; De Santi, C.; Chiocchetta, F.; Treidel, E. Bahat; Wolf, M.; Brunner, F.; Hilt, O.; Würfl, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.

Source

In Microelectronics Reliability November 2022 138

Subject

Language

ISSN

0026-2714

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