학술논문 – 부산대학교 도서관

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Reliability improvement of high value doped polysilicon-based resistors

Document Type

Article

Author

Carvou, E.; Le Bihan, F.; Salaün, A.C.; Rogel, R.; Bonnaud, O.; Rey-Tauriac, Y.; Gagnard, X.; Roland, L.

Source

In Microelectronics Reliability 2002 42(9):1369-1372

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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