학술논문 – 부산대학교 도서관

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Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress

Document Type

Article

Author

Willemen, J. ; Andreini, A.; De Heyn, V.; Esmark, K.; Etherton, M.; Gieser, H.; Groeseneken, G.; Mettler, S.; Morena, E.; Qu, N.; Soppa, W.; Stadler, W.; Stella, R.; Wilkening, W.; Wolf, H.; Zullino, L.

Source

In Journal of Electrostatics 2004 62(2):133-153

Subject

Language

ISSN

0304-3886

Online Access

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