학술논문 – 부산대학교 도서관

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Ultra-thin gate oxide reliability projections

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Author

Weir, B.E. ; Alam, M.A.; Silverman, P.J.; Baumann, F.; Monroe, D.; Bude, J.D.; Timp, G.L.; Hamad, A.; Ma, Y.; Brown, M.M.; Hwang, D.; Sorsch, T.W.; Ghetti, A.; Wilk, G.D.

Source

In Solid State Electronics 2002 46(3):321-328

Subject

Language

ISSN

0038-1101

Online Access

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