학술논문 – 부산대학교 도서관

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Atom probe tomography of nitride semiconductors

Document Type

Article

Author

Rigutti, L.; Bonef, B.; Speck, J.; Tang, F.; Oliver, R.A.

Source

In Scripta Materialia 15 April 2018 148:75-81

Subject

Language

ISSN

1359-6462

Online Access

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